发明名称 半导体装置
摘要 【课题】提供一种可提升半导体装置之电气特性之技术。【解决手段】在p^–半导体基板1上之n^–半导体层3中,从其上面与p^–半导体基板1之界面中设有p^+杂质区4。p^+杂质区4系在n^–半导体层3内区分为高电位岛区101、低电位岛区104以及狭缝区105。高电位岛区101中之n^–半导体层3与低电位岛区104中之n^–半导体层3系由狭缝区105中之n^–半导体层3连接,且在高电位岛区101中之n^–半导体层3系形成有逻辑电路103。又,狭缝区105中之n^–半导体层3之Y轴方向之宽度W系设定为较高电位岛区101中之n^–半导体层3之Y轴方向之宽度HW小。
申请公布号 TW200529354 申请公布日期 2005.09.01
申请号 TW093123338 申请日期 2004.08.04
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 清水和宏
分类号 H01L21/76 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本