| 主权项 |
1.一种数位-类比转换器之测试装置,系非建置于晶 片上,其包含: 一测试图案产生器,用以产生一包含复数个位元讯 号之测试图案,其中该测试图案可组合出待测之数 位-类比转换器之各种数位转类比(DA)讯号; 一取样及维持电路,用以针对该数位-类比转换器 之输出讯号进行取样及维持;以及 一类比讯号量测仪,用以针对该取样及维持电路之 输出讯号进行量测。 2.如申请专利范围第1项之数位-类比转换器之测试 装置,其中该测试图案产生器及类比讯号量测仪系 建置于一测试机中。 3.如申请专利范围第1项之数位-类比转换器之测试 装置,其中该取样及维持电路系建置于一测试板中 。 4.如申请专利范围第1项之数位-类比转换器之测试 装置,其中该测试图案产生器系一软体程式。 5.如申请专利范围第1项之数位-类比转换器之测试 装置,其中各位元讯号系该DA讯号之相同位元之组 合。 6.如申请专利范围第1项之数位-类比转换器之测试 装置,其中于两相邻DA讯号间之位元讯号之値为0。 7.如申请专利范围第1项之数位-类比转换器之测试 装置,其中该DA讯号之撷取频率为该数位-类比转换 器之输出讯号之脉冲频率的倍数。 8.如申请专利范围第7项之数位-类比转换器之测试 装置,其中该倍数相等于该DA讯号之位元数。 9.一种数位-类比转换器之测试方法,其系应用于一 测试机,包含下列步骤: 产生一包含复数个位元讯号之测试图案,该测试图 案可组合出一待测之数位-类比转换器之各种数位 转类比(DA)讯号; 将该DA讯号转换为一类比讯号; 针对该类比讯号之脉冲进行取样,且该类比讯号之 脉冲之峰値则进行维持;以及 量测经取样及维持后之类比讯号。 10.如申请专利范围第9项之数位-类比转换器之测 试方法,其中该DA讯号系利用一正弦波转换而得。 11.如申请专利范围第10项之数位-类比转换器之测 试方法,其中该正弦波系依每单位时间转换为柱状 图,该柱状图之高度代表DA讯号之値。 12.如申请专利范围第9项之数位-类比转换器之测 试方法,其中各位元讯号系该DA讯号之相同位元之 组合。 13.如申请专利范围第9项之数位-类比转换器之测 试方法,其中于两相邻DA讯号间之位元讯号之値为0 。 14.如申请专利范围第9项之数位-类比转换器之测 试方法,其中该DA讯号之撷取频率为该数位-类比转 换器之输出讯号之脉冲频率的倍数。 15.如申请专利范围第9项之数位-类比转换器之测 试方法,其中该倍数相等于该DA讯号之位元数。 图式简单说明: 图1系本发明之数位-类比转换器之测试装置之示 意图; 图2例示本发明之数位-类比转换器之测试图案; 图3例示本发明之数位-类比转换器之测试装置之 数位-类比转换器之输出讯号; 图4例示本发明之数位-类比转换器之测试装置之 取样及维持电路之输出讯号; 图5、6例示本发明之数位-类比转换器之另一测试 图案及其产生方式;以及 图7例示本发明之数位-类比转换器之测试装置之 数位-类比转换器和取样及维持电路之输出讯号。 |
