发明名称 Plasma Processing Device
摘要 본 발명의 플라즈마 처리 장치는, 내부의 감압이 가능하고, 상기 내부에서 피처리체에 대해 플라즈마 처리되도록 구성된 챔버와, 상기 챔버 내에 배치되어 상기 피처리체를 재치하는 평판형의 제 1 전극과, 상기 제 1 전극에 대해 제 1 주파수의 바이어스 전압이 인가되도록 구성된 제 1 고주파 전원과, 상기 챔버 외부에 배치되어 상기 챔버의 덮개를 형성하는 석영판을 사이에 두고 상기 제 1 전극과 대향하도록 배치된 나선형의 제 2 전극과, 상기 덮개 또는 그 근방에 배치된 가스 도입구에서 상기 챔버 내에 불소를 함유하는 프로세스 가스를 도입하는 가스 도입 수단을 구비하고, 상기 제 2 전극에 대해 제 2 주파수의 교류 전압을 인가하는 제 2 고주파 전원과, 상기 제 2 주파수보다 높은 제 3 주파수의 교류 전압을 인가하는 제 3 고주파 전원이 전기적으로 연결되어 있어서, 2 종류의 교류 전압이 동시에 인가되도록 구성되어 있다.
申请公布号 KR20160138590(A) 申请公布日期 2016.12.05
申请号 KR20167033046 申请日期 2016.01.08
申请人 가부시키가이샤 아루박 发明人 무라야마 타카히드;모리카와 야스히로;사쿠이시 토시유키
分类号 H01L21/3065;H01L21/02;H01L21/3213;H05H1/46 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人
主权项
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