| 发明名称 | 用于非接触式光学测距的装置 | ||
| 摘要 | 描述了一种用于非接触式光学测距的装置，其包括：多色光源(3)、光分析单元(4)和测量头(5)，其中，测量头(5)包括光圈孔(6)和具有轴向色像差的光学透镜系统(12)。所述光学透镜系统(12)包括第一折射透镜(1)和第二折射透镜(2)，其中，折射透镜(1、2)中的至少一个具有至少一个非球面透镜表面(11)，并且第一折射透镜(1)和/或第二折射透镜(2)具有阿贝数为20≤ν<sub>d</sub>≤41的光学材料。所述光学透镜系统(12)具有这样的轴向色像差，使得等于波长在450nm至700nm之间的光学透镜系统(12)的轴向焦点位移的测量范围(MR)在(包含)0.2mm至(包含)10mm之间。 | ||
| 申请公布号 | CN105992929A | 申请公布日期 | 2016.10.05 |
| 申请号 | CN201480064945.8 | 申请日期 | 2014.11.12 |
| 申请人 | 微－埃普西龙测量技术有限两合公司 | 发明人 | 赫伯特·格罗斯;B·梅塞施米特;钟敏仪;马塞尔·孔泽 |
| 分类号 | G01B11/02(2006.01)I;G01B11/06(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人 | 谢攀;刘继富 |
| 主权项 | 一种用于非接触式光学测距的装置，包括：光源(3)、光分析单元(4)和测量头(5)，其中，‑所述光源(3)是适用于将连续光谱的光(13)发射到所述测量头(5)中的多色光源，‑所述光分析单元(4)适用于从所述测量头(5)接收光(14)并且对从所述测量头(5)接收的光(14)进行光谱分析，‑所述测量头(5)具有光圈孔(6)，所述光圈孔(6)用于使所述光源(3)的所述光(13)射入所述测量头(5)并且使所接收的光(14)从所述测量头(5)朝向所述光分析单元(4)射出，‑所述测量头(5)包括具有轴向色像差的光学透镜系统(12)，‑所述光学透镜系统(12)包括第一折射透镜(1)和第二折射透镜(2)，‑所述折射透镜(1、2)中的至少一个具有至少一个非球面弯曲的透镜表面(11)，‑所述第一折射透镜(1)和/或所述第二折射透镜(2)具有阿贝数为20≤ν<sub>d</sub>≤41的光学材料，并且‑所述光学透镜系统(12)具有轴向色像差，使得等于波长在450nm至700nm之间的所述光学透镜系统(12)的轴向焦点位移的测量范围(MR)在0.2mm至10mm之间，包含0.2mm和10mm。 | ||
| 地址 | 德国奥尔滕堡 | ||