发明名称 METHOD OF ESTIMATING A YIELD OF AN INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF OPTIMIZING A DESIGN FOR AN INTEGRATED CIRCUIT
摘要 집적 회로의 수율 예측 방법에서, 집적 회로에 대한 정적 타이밍 분석을 수행하여 집적 회로에 포함된 타이밍 패스들 중 크리티컬 패스들이 추출되고, 크리티컬 패스들이 임계 시그마 수준들에 따라 임계 시그마 수준 그룹들로 그룹화된다. 임계 시그마 수준 그룹들 각각에 속하는 크리티컬 패스들의 개수에 기초하여 집적 회로의 수율이 계산된다. 이에 따라, 집적 회로의 수율이 보다 정확하게 예측될 수 있고, 또한 효율적으로 계산될 수 있다.
申请公布号 KR20160147435(A) 申请公布日期 2016.12.23
申请号 KR20150084181 申请日期 2015.06.15
申请人 삼성전자주식회사 发明人 김문수;임경환;배철준
分类号 G06F17/50 主分类号 G06F17/50
代理机构 代理人
主权项
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