发明名称 CHEMICALLY AMPLIFIED POSITIVE RESIST COMPOSITION FOR ArF IMMERSION LITHOGRAPHY AND PATTERN FORMING PROCESS
摘要 (A) 식 (1-1)로 표시되는 트리아릴술포늄=2,3,3,3-테트라플루오로-2-(1,1,2,2,3,3,3-헵타플루오로프로폭시)프로파노에이트, (B) 식 (1-2)로 표시되는 산 발생제, (C) 베이스 수지, (D) 유기 용제 를 함유하는 ArF 액침 노광용 화학 증폭 포지티브형 레지스트 재료.(Ar은 아릴기. )(R은 알킬기, 알케닐기 또는 아랄킬기. R는 수소 원자 또는 트리플루오로메틸기. Ar은 아릴기.) 본 발명에 의하면, 소수성이 높고 액침수에의 용출이 낮으며, 산 확산을 제어할 수 있기 때문에, 고해상성의 패턴 프로필을 구축할 수 있다.
申请公布号 KR101664520(B1) 申请公布日期 2016.10.10
申请号 KR20120116620 申请日期 2012.10.19
申请人 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 发明人 오사와 요이치;오하시 마사키;사사미 다케시;하타케야마 쥰
分类号 G03F7/039;G03F7/004;G03F7/26 主分类号 G03F7/039
代理机构 代理人
主权项
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