发明名称 光电子聚焦误差检测装置
摘要
申请公布号 TW071496 申请公布日期 1985.10.16
申请号 TW073202486 申请日期 1982.08.30
申请人 飞利浦电泡厂 发明人
分类号 G02B27/40 主分类号 G02B27/40
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种光学电子集焦误差检测装置,用以检测光学影像装置中之一第一辐射反射表面与一物镜系统之一集焦平面间之偏差,特别是用以读示一带有光学辐射反射资讯结构之记录载体之装置或者用以将资讯以光学方式录制在一纪录载体中之装置,此种集焦误差检测装置含有一波束分裂器以及一辐射敏感检测系统,前者系配置在由第一表面所反射之一辐射波束路径中,后者被配置在波束分裂器后方,并含有由狭条片将彼此分离之多个检波器,一第一分离条片系与由波束分裂器所形成之两个次波束之一第一次波束相结合,而第二分离条片则与第二次波束相结合,而此等检波器之输出系连接至一电子电路之输入,并自检波器信号获得一集焦误差信号,此种装置之特点为该第一分离条片系与该第二分离条片成一锐角。2.根据上述请求专利部份第1.项之一种光学电子集焦误差检测装置,其特点为该分离条片间之角度乃系实质上为二+二度。
地址 荷兰