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发明名称 IC TESTING SYSTEM
摘要
申请公布号 JPS6283676(A) 申请公布日期 1987.04.17
申请号 JP19850225246 申请日期 1985.10.09
申请人 NEC CORP 发明人 HIGAKE MASAKATSU
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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