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l.一种测量系统,乃提供在一参考位置两边之一处上可直接读取,包括a﹒读取头装置包含一话取头构件系用以与相对之一刻划参考构件件横向移动以获取相关于一参考位置之测量値;及b﹒显示器装置用以显示测量値,此显示器包含:i.第一模式显示器装置当读取头构件自参考位置之第一边远离时,会递增其测量値,当读取头构件移向参考位置之第一边时会递减其测量値;及ii.第二模式显示器装置当读取头构件自参考位置之另一体远离时会递增其测量値,当读取头装置移向参考位置之另一边时会递减其测量値。2.如申请专利范围第1项所述之测量系统,其中显示器装置包含以小数单位显示测量値之装置。3.如申请专利范围第1项所述之测量系统,其中显示器装置包含以分数单位显示测量値之装置。4.如申请专利范围第1项所述之测量系统,其中显示器装置包含以小数和分数两种单位显示测量値之装置。5.如申请专利范围第l项所述之测量系统,其中显示器装置包含以最简形式显示之分数单位之测量値之装置。6.如申请专利范围第l项所述之测量系统,其中显示器装置包含以英制单位显示测量値之装置。7.如申请专利范围第1项所述之测量系统,其中显示器装置包含以公制单位显示测量値之装置。8.如申请专利范围第1项所述之测量系统,其中显示器装置包含以英制和公制两种单位显示测量値之装置。9.如申请专利范围第1项所述之测量系统,其中显示器装置包含在读取装置于任何位置时均可设立一零读取之装置。10.如申请专利范围第1项所述之测量系统,其中显示器装置包含提供两种精密度范围测量之装置。11.如申请专利范围第1项所述之测量系统,其中显示器装置包含耦台装置用以耦合各单一及第二模式显示器装置至读取头装置,因此不论读取头装置之预设路径系以水平或其他方向,各第一及第二模式显示器装置皆可依水平方向读取。12.如申请专利范围第11项所述之测量系统,其中之耦合装置包含用以遥接各第一及第一模式显示器装置至读取头装置。13.一测量系统乃提供在锯刃任一边之锯导杆位置可直接读取,其包含:a.读取头装置,包含一读取构件用以与锯导杆沿着一导引轨道刻划参考构件作横向移动以获取相关于沿导引轨道之一参考位置之测量値;及b.显示器装置,用以显示测量値,此显示器装置包含;i.向右锯模式显示器装置,当锯导杆自锯刃右侧远离时会选增某测量値,当锯导杆移向锯刃之右侧时会递减其测量値。ii."向左锯"模式显示装置,当锯导杆自锯刃左侧速离时会递增其测量値,当锯导杆移向锯刃之左侧时曾递减其测量値。14.如申请专利范围第13项所述之测量系统,其中之锯导杆系一桌锯导杆。15.如申请专利范围第13项所述之测量系统,其中之显示器装置包含以小数单位显示测量値之装置。16.如申请专利范围第13项所述之测量系统,其中之显示器装置包含以分数单位显示测量値之装置。17.如申请专利范围第13项所述之测量系统,其中之显示器装置包含以小数和分数两种单位显示测量値之装置。18.如申请专利范围第13项所述之测量系统,其中显示器装置包含以分数单位之最简式显式测量値之装置。19.如申请专利范围第13项所述之测量系统,其中之显示器装置包含以英制单位显示测量値之装置。20.如申请专利范围第13项所述之测量系统,其中之显示器装置包含以公制单位显示测量价之装置。21.如申请专利范围第13项所述之测量系统,其中之显示器装置包含以英制和公制两种单位显示测量値之装置。22.如申请专利范围第13项所述之测量系统,其中之显示器装置包含在读取头装置位于任一位置均可设立零读取之装置。23.如申请专利范围第13项所述之测量系统,其中之显示器装置包含具有两种精密度范围测量値之装置。24.如申请专利范围第13项所述之测量系统,其中之显示器装置包含用以耦合各第一及第二模式显示器至读取头装置之耦合装置,因此不论读取头装置之预设路径系为水平或其他方向,皆可独立地依水平方向被读取。25.如申请专利范围第24项所述之测量系统,其中之耦合装置包含用以通接各第一及第二模式显示器装置至读取头装置之装置。26.一测量系统用以替代或增强一类比机械测量系统,此类比机械测量系统系被具有一人工读取变化刻度和一机械式指示器所替代或增强用以读取变化之刻度,机械式测量系统之读取在读取此系统之说明要求上会有人为之失误,此测量系统包含:a.读取头装置,包含一读取构件系相对一刻划参考横件作横向之移动以获取有关于一参考位置之测量値;b.第一模式显示器装置,当读取头构件自参考位置之第一体远离时会递增其测量値,当读取头构件移向参考位置之第一边时,会递减其测量値:及c.第二模式显示器装置,当读取头构件自参考位置之另一体远离时会递增其测量値,当读取头构件移向参考位置之另一边时,会递减测量値。图示简单说明:图一系说明本发明使用于一倾轴台锯之外观图。图二条说明一测量系统读取磁头和显示器单位与一台锯前导引轨道之运作关系,此图亦可看出一磁力耦合器附于台锯导引构件上。图三条表示一测量系统显示器单元和读取磁头之侧视图与一台锯前导引轨道剖面图之结合关系。图四系一显示器单元和读取磁头之分解图。图正系一测量系统读取磁头和显示器单元与一导引轨道结合之透视图。图大系一较佳读取磁头与一导引轨道结合之剖面图。图七系说明一显示器单元遥接于一读取磁头。图八条说明一测量系统以垂直方向与一厚度刨床结合情形,此图亦可看出一附于厚度刨床台之磁力耦合器。图九系本测量系统之方块图。图十乃说明一读取构件之构造。图十一系说明形成一较佳读取参考装置一部份之读取条或刻划参考构件。图十一a系一较佳读取条或刻划参考构件之剖面固。图十二至十五说明与本系统相连接之较佳电路。图十六至十九系说明本系统所使用之较佳软体流程。 |
