| 发明名称 |
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING UNEVEN THICKNESS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH04315939(A) |
申请公布日期 |
1992.11.06 |
| 申请号 |
JP19910082191 |
申请日期 |
1991.04.15 |
| 申请人 |
SUMITOMO ELECTRIC IND LTD |
发明人 |
INOUE SUSUMU;KOBAYASHI TAKEHITO;SHINOKI HIDEJI |
| 分类号 |
G01B11/06;G01M11/00;G02B6/00;G02B6/44 |
主分类号 |
G01B11/06 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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