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发明名称
METHOD AND CIRCUIT ARRANGEMENT FOR TESTING RELIABILITY OF THE ELECTRONIC DEVICES, FAVOURABLY FOR THE APPLICATION ON MICROWAVE TRANSISTOR
摘要
申请公布号
HUT62093(A)
申请公布日期
1993.03.29
申请号
HU19900005836
申请日期
1990.09.10
申请人
MTA MUESZAKI FIZIKAI KUTATO INTEZETE,HU
发明人
MOJZES,IMRE,HU;KOVACS,BALAZS,HU;SZUECS,ISTVAN,HU;SONKOLY,AUREL,HU;HAZMAN,ISTVAN,HU;DEAK,ISTVAN,HU;VERESEGYHAZY,ROBERT,HU;CSANYI,FERENC,HU;KAZI,KAROLY,HU;MENYHART,ISTVAN,HU;HORVATH,ZOLTAN,HU
分类号
G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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