发明名称 光学扫描系统
摘要 本发明之光学扫描系统系采用多重同步感测元件装置,将每一行之调变信号区分成数个区间,而使多面镜扫描器速度抖动(Jitter)的效应平均分布在各区间信号内,以降低此速度抖动对列印品质的影响。例如,若此多重同步感测元件装置设有20个同步感测元件,则速度抖动效应将降为 1/20 ,效果非常大。故利用此技术手段即可在高解析度光学扫描器中采用较松规格之多面镜扫描器,以大大降低成本。
申请公布号 TW209890 申请公布日期 1993.07.21
申请号 TW081110543 申请日期 1992.12.29
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 陈君彦
分类号 G02B26/10 主分类号 G02B26/10
代理机构 代理人
主权项 1﹒一种光学扫描系统,适用于一电子控制系统经由一同步用半导体雷射来发射出同步信号光束,以依序取得多重同步信号,并依据该多重同步信号而将调变信号区分成对应于该多重同步信号的多数区间,且经由一调变信号用半导体雷射依据该多重同步信号而依序地发射出对应于该调变信号之区间的调变信号光束,以投射至一感光鼓;该光学扫描系统包括:一准直透镜,使由该调变信号用半导体体雷射所发射出的调变信光束及该同步用半导体雷射所发射出的同步信号光束形成平行光束;一柱面透镜,使通过该准直透镜的调变信号光束及同步信号光束聚焦;一多面镜扫描器,使通过该柱面透镜的调变信号光束及同步信号光束成为扫描光束;一光学扫描透镜组,使经过该多面镜扫描器的调变信号光束线性地扫描投射于该感光鼓上;其特征在于:具有一多重同步感测元件装置,该多重同步感测元件装置系用以接收由该同步用半导体雷所射发射经过该准直透镜、该多面镜扫描器及该光学扫描透镜组而扫描投射于其上的同步信号光束,并由该同步信号光束取得该多重同步信号,然后将该多重同步信号传送至该电子控制系统,而该电子控制系统依据该多重同步信号而调变该调变信号用半导体宙射,使其依序地发射出对应于该调变信号之区间的调变信号光束。2﹒如申请专利范围第1项所述之光学扫描系统,其中,该多重同步感测元件装置系由扩散光罩板、聚焦元件及感测元件所构成,且于该扩散光罩板依序设有多数狭缝﹒当该同步信号光束依序扫描投射至该等狭缝时,该等狭缝会将投射至该等狭缝的该同步信号光束扩散,并经由该聚焦元件而投射至该感测元件,进而将该多重同步信号传送至该电子控制系统。3﹒如申请专利范围第2项所述之光学扫描系统,其中,该聚焦元件为自焦透镜阵列。4﹒如申请专利范围第3项所述之光学扫描系统,其中,该感测元件为由多数光二极体构成的光二极体阵列。5﹒如申请专利范围第3项所述之光学扫描系统,其中,该感测元件系由多数光纤及单个光二极体所构成,且利用该等光纤将该同步信号光束引导至该光二极体。图示简单说明第1图系显示习知光学扫描系统应用于雷射印表机的立体分解图;第2图系显示第1图所示习知光学扫描系统之速度抖动对列印速度(列度长度)之影响的对照图;第3图系显示本发明之光学扫描系统的立体分解图;第4图系显示本发明之多重同步感测元件装置的构造图;第5图系显示第4图所示多重同步感测元件装置中之扩散光罩板的正视图;第6图系显示本发明之多重同步感测元件装置之第一实施例的构造图;第7图系显示本发明之多重同步感测元件装置之第二实施例的构造图;第8图系显示第1图所示习知系统与本发明之调变信号的比较图;以及第9图系显示本发明之多重同步信号对速度抖动之影响的说明图。
地址 新竹县竹东镇中兴路四段一九五号