发明名称 Cellule mémoire insensible aux rayonnements.
摘要 <P>L'invention concerne une cellule mémoire comprenant deux ensembles incluant chacun des premier à troisième transistors (MP1, MN5, MN1; MP2, MN6, MN2) reliés entre des potentiels haut et bas (Vdd, Vss), le premier transistor (MP1, MP2) étant à canal P et les deuxième et troisième à canal N. La grille du troisième transistor de chaque ensemble est reliée au nœud de sortie de l'autre ensemble, et la grille du deuxième transistor de chaque ensemble est reliée à la grille du premier transistor de l'autre ensemble. Un quatrième transistor (MP3, MP4) à canal P, associé à chaque ensemble, est relié entre le potentiel haut (Vdd) et la grille du premier transistor (MP1, MP2) de l'ensemble. Un cinquième transistor (MN7, MN8) à canal N, associé à chaque ensemble, est relié entre la grille du premier transistor de l'ensemble et le potentiel bas (Vss).</P>
申请公布号 FR2702874(A1) 申请公布日期 1994.09.23
申请号 FR19930003334 申请日期 1993.03.18
申请人 CENTRE NAL RECHERC SCIENTIFIQUE 发明人 BESSOT DENIS;VELAZCO RAOUL
分类号 G11C11/412;(IPC1-7):G11C11/412;G11C7/02 主分类号 G11C11/412
代理机构 代理人
主权项
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