| 主权项 |
1.一种十分取样过滤器具有一可选择之十分取样,用以至少对一具有预定率之外部取得之量化电信号流进行过滤,该过滤器包含:一系数产生器相应于一组外部取得之十分取样率选择信号以提供一分离之预定一般化系数信号于数个输出埠之每一个别输出埠;该系数产生器包含:一解多工器单元相应于外部取得十分取样率选择信号以提供一预定尺度控制输出信号于S解多工器输出埠中之选定输出埠,其中S为相应于由该十分取样过滤器所提供之可选择十分取样率之数字的预定整数;一(N+S-1)位元计数器相应于一预定计数器时钟信号且被耦接以接收来自该解多工器单元之尺度控制信号以提供一分离计数器输出信号于N+S-1计数器输出埠中之所选定之输出埠,其中N为被选定而使2N及2N-(S-1)分别构成该十分取样过滤器之十分取样率的上下界的预定整数;一反相电路被耦接至该N位元计数器以接收每一计数器输出信号,该反相器相应于一反相器控制信号以选择性地将每一所接收之计数器输出信号反相;以及一填零电路被耦接以接收来自该反相电路之每一输出信号且相应于来自解多工器单元之尺度控制输出信号以提供分离之一般化系数信号于N+S-1填零电路中之每一个别填零电路,其包含该系数产生器之数个输出埠;一累加器被耦接至该系数产生器以接收产生于其间之每一一般化系数信号,该累加器进一步被耦接以接收量化电信号流之至少一流以便在以所接收之一般化系数信号之个别系数信号掩盖时产生数个累加器输出信号,以及一过度流量侦测器被耦接至该累加器以侦测累加器中之一过度流量状况。2.如申请专利范围第1项所述之十分取样过滤器,其中该十分取样包含数个N+S-1加法器。3.如申请专利范围第2项所述之十分取样过滤器,某中该数个N+S-1加法器中之每一加法器包含一具有两个被加输入埠,一内存埠,一和输出埠及一外放输出埠的一全加法器,且其中该数个全加法器之任两个连续全加法器被互相耦合以便一全加法器之外放输出埠被耦接至另一全加法器之内存输入埠;以及每一该数个全加法器中之个别全加法器具有一用以将其两个被加输入埠之一耦接至其和输出埠之个别回授路径,全加法器中之数个被分别耦接至S解多工器输出信号之一预定输出信号以选择性地于其另一被加输入埠接收来自解多工器之尺度控制信号,每一剩余之全加法器被耦接以于其另一被加输入埠接收一相应于一逻辑零之预定信号。4.如申请专利范围第2项所述之十分取样过滤器,其中该填零电路包含一第一电路被耦接至解多工器输出埠中之顶定输出埠以选择性地于其中接收尺度控制信号以对超过相应于一所要之十分取样率之预定资料区之一最明显位元之所选定的反相器输入信号进行填零,且进一步包含一第二电路被耦接至解多工器输出埠中之预定输出埠以选择性地于其中接收尺度控制信号以对超过相应于一所要之十分取样率之预定资将区之一最不明显位元之所选定的反相器输入信号进行填零。5.如申请专利范围第3项所述之十分取样过滤器,其中该第一电路包含个别组之及闸及或闸被连接以经任何所接收之尺度控制信号产生涟波。6.如申请专利范围第3项所述之十分取样过滤器,其中该第二电路包含个别组之及闸及或闸被连接以经任何所接收之尺度控制信号产生涟波。7.如申请专利范围第1项所述之十分取样过滤器,其中该累加器包含一2N位元累加器。8.如申请专利范围第7项所述之十分取样过滤器,其中该累加器包含数个2N级各被用以产生一2N累加器位元之一个别位元。9.如申请专利范围第8项所述之十分取样过滤器,其中每一该2N级包含一个别多频道级。10.如申请专利范围第9项所述之十分取样过滤器,其中每一个别多频道级包含:一单一流多工器具有两输入埠,该单一流多工器被耦撩以接收至少量化信号流之该一个别流于该各工器之两输入埠之个别一输入埠及一外加个别量化信号流于两输入埠之另一输入埠;一〝及〞闸具有两个输入埠且被耦按以接收来自该信号流多工器之一输出信号于两闸输入埠之一个别输入埠,该闸被用以将由该一般化电路所提且接收于该闸之另一输入埠之每一个别一般化系数信号与量化信号流之每一个别流进行掩盖以供应一经掩盖之信号于其一输出埠;一加法器具有两被加输入埠及一和输出埠用以供应个别累积之经掩盖输出信号,该加法器被耦接以接收来自该闸之经掩盖信号于该两个被加输入埠之一个别输入埠,该加法器具有一用以接收一内存信号之内存信号输入埠及一外放输出埠被耦按至该2N级之后续级用以将一外放信号传至该后及,除了最后一级以外,其中该外放输出埠被耦接至该过度流量侦测器;一组个别延迟单元个授与一预定延迟至来自该加法器之累积输出信号;一二至一个选择性地由两个分离回授路径耦接预定之延迟单元至该两个被加输入埠之另一个,相应于一供至该二至一多工器之管信号;以及一双锁定单元分别相应于一锁定时钟信号被耦接至预定的延迟单元以提供一个则受过滤之输出信号。11.如申请专利范围第10项所述之十分取样过滤器,其中该延迟装置包含四个串列耦接之个别延迟单元。12.如申请专利范围第11项所述之十分取样过滤器,其中该延迟单元之一第一单元被耦接以直接接收来自该加法器之累积输出信号,及该延迟单元之第四单元被选择性地经由该两个回授路径之个别之一耦接至该被加输入埠之另一个,一旦管信号到达两预定位准中之一。13.如申请专利范围第12项所述之十分取样过滤器,其中该延迟单元之第三个被选择性地经由两回授路径之另一个耦接至该被加输入之另一个,一旦管信号到达两预定位准之另一个。14.如申请专利范围第1项所述之十分取样过滤器,其中N=12,且S=8。15.如申请专利范围第10项所述之十分取样过滤器,其中每一个别量化电信号流包含一来自个别一位元sigma-delta调变器之单一位元信号流。16.如申请专利范围第1项所述之十分取样过滤器,包含一单一单石电子积体电路晶片,包含至少一提供二进位电信号之单一位元流之sigma-delta调变器;该晶片包括该系数产生器。17.一种方法用以对外部取得之二进位信号流之至少一流进行十分取样过滤,该方法包含下列步骤:相应于一组外部取得之十分取样率选择信号而产生一预定序列之一般化系数信号;该产生一般化系数信号预定序列之步骤包含:于S解多工器输出埠中之选定输出埠提供一预定尺度控制信号,其中S为相应提供于其中之可选择十分取样率之数字之预定整数;于(N+S-1)计数器输出埠中之所选定之输出埠产生一分离计数器信号其中N为被选定以使2N及2N-(s-1)分别构成十分取样率之上下界之预定整数;以及在对所产生之(N+S-1)计数器输出信号中之个别输出信号进行预定之填零时产生N+S-1一般化信号;及接收外部取得二进位信号流之至少一流;以该预定序列之一般化系数信号掩盖该外部取得之二进位信号流;及累积经掩盖之信号以提供一经过滤信号。18.如申请专利范围第17顶所述之方法,进一步包含侦测及校正任何任累积步骤中所发生的过度流量情况之步骤。19.如申请专利范围第18项所述之方法,其中该外部取得之二进位信号流之至少一流包含来自一一位元sigma- |
