| 主权项 |
1.一种用以写入伺服模式于储存媒介之方法,该储存媒介位于具有一内部记录磁头之记录装置,该储存媒介包含多个径向区,每一径向区具有多个磁轨,该方法包含下列步骤:利用该内部记录磁头来写入时序模式于该储存媒介;根据该等多个径向区之至少一区之该内部记录磁头所传输之模式来决定该区之径向位置値;利用该内部记录磁头来写入伺服模式于该储存媒介,该伺服模式写入藉由该时序模式与该径向位置値所决定之位置。2.根据申请专利范围第1项之方法,其中该记录装置包含多个内部记录磁头且该方法进一步包含决定该等多个内部记录磁头之那一磁头写入最宽的步骤。3.根据申请专利范围第2项之方法,其中该记录装置包含多个储存媒介,该等多个储存媒介之每一储存媒介具有相关于其之该等多个内部记录装置之至少一内部记录装置,且其中决定该等多个内部记录磁头之那一磁头写入最宽的步骤包含下列步骤:利用该等多个内部记录磁头之每一内部记录磁头来写入第一跃迁;利用该等多个内部记录磁头之一内部记录磁头来写入第二跃迁,写入该第二跃迁于离利用该等多个内部记录磁头之该磁头写入之第一跃迁一预定径向距离之处;利用该第二跃迁来定址该等多个内部记录磁头之每一内部记录磁头;及读取并比较该定址之记录磁头与相关于该等第一跃迁之每一跃迁的一振幅信号并且藉由比较结果来决定该等多个内部记录磁头之那一磁头写入最宽。4.根据申请专利范围第3项之方法,其中该预定径向距离是在用以写入该第二跃迁之该等内部记录磁头之该内部记录磁头的读回信号是大约该信号之最大振幅之一半之处。5.根据申请专利范围第2项之方法,其中判定为写入最宽之该内部记录磁头是用以产生该时序模式。6.根据申请专利范围第2项之方法,其中判定为写入最宽之该内部记录磁头是用以写入该伺服模式。7.根据申请专利范围第1项之方法,其中该储存媒介包含N磁轨且该径向位置决定步骤包含下列步骤:写入至少一跃迁于该等N磁轨之一部份,该等N磁轨之该部份少于该等N磁轨;取得写入于该等N磁轨之该部份之每一磁轨之该等至少一跃迁的读回信号;及利用该读回信号来决定该径向位置値。8.根据申请专利范围第1项之方法,其中该产生步骤包含下列步骤:写入第一多个跃迁于该储存媒介之多个磁轨之第一磁轨;及写入第二多个跃迁于该储存媒介之该等多个磁轨之第二磁轨,以对应之第一时间延迟来写入该等第二多个跃迁之第一部份的每一跃迁并且以对应之第二时间延迟来写入该等第二多个跃迁之第二部份的每一跃迁。9.根据申请专利范围第8项之方法,其中该等多个跃迁之该对跃迁包含一奇数号码跃迁与一偶数号码跃迁。10.根据申请专利范围第1项之方法,其中该记录装置包含多个内部记录磁头与多个记录媒介,该等多个记录媒介之每一记录媒介具有相关于其之该等多个内部记录磁头之至少一内部记录磁头,且其中该产生步骤进一步包含下列步骤:利用该等多个内部记录磁头之第一内部记录磁头来写入代表一时序模式之第一多个跃迁;定址该等多个内部记录磁头之该第一磁头与该等多个内部记录磁头之第二磁头;利用该等多个内部记录磁头之该定址第一内部记录磁头来读取该等第一多个跃迁并且利用该等多个内部记录磁头之该定址第二内部记录磁头来写入代表一时序模式之第二多个跃迁;重新定址该等多个内部记录磁头之该第一内部记录磁头与第二内部记录磁头;及利用该等多个内部记录磁头之该重新定址第二内部记录磁头来读取该等第二多个跃迁并且利用该等多个内部记录磁头之该重新定址第一内部记录磁头来写入第三多个跃迁。11.一种用以产生一时序模式于具有多个磁轨之一储存媒介的方法,该方法包含下列步骤:写入第一多个跃迁于该储存媒介之第一径向位置;决定该等第一多个跃迁之诸选择对间之一时间间隔;决定每一决定时间间隔与一预定额定间隔间之偏移量,以致该等第一多个跃迁之每一选择对具有对应之决定偏移量;及写入第二多个跃迁于该储存媒介之第二径向位置,该等第二多个跃迁之每一跃迁是以紧接该等第一多个跃迁之一先前跃迁之一对应时间延迟来写入,该对应时间延迟是由该额定时间间隔与该对应决定偏移量之函数来决定,以致相关于写入该等第一多个跃迁之随机误差之传输在写入该等第二多个跃迁中受到降低,因而校准该等第二多个跃迁与该等第一多个跃迁之对应跃迁所导致之随机误差降低。12.根据申请专利范围第8项之方法,其中该等第一多个跃迁之一对跃迁包含一奇数号码跃迁与一偶数号码跃迁。13.根据申请专利范围第8项之方法,其中该等第二多个跃迁之该第一部份代表多个偶数号码跃迁且其中该等第一时间延迟之每一时间延迟包含该预定额定间隔加上相关于该等第一多个跃迁之一对跃迁之偏移量的一部份,且其中该等第二多个跃迁之该第一部份的每一跃迁对应于该等第一多个跃迁之该对跃迁的一跃迁。14.根据申请专利范围第13项之方法,其中利用写入于该第一径向位置之该等奇数号码跃迁做为触发点来写入该等多个偶数号码跃迁。15.根据申请专利范围第12项之方法,其中该等第二多个跃迁之该第二部份代表多个奇数号码跃迁且其中该等第二时间延迟之每一时间延迟包含一预定额定间隔。16.根据申请专利范围第15项之方法,其中利用写入于该第一径向位置之该等偶数号码跃迁做为触发点来写入该等多个奇数号码跃迁。17.一种用以决定包含一储存媒介之一记录装置之磁轨距离的方法,该储存媒介具有N磁轨,该方法包含下列步骤:写入一跃迁于该等N磁轨之多个磁轨,该等N磁轨之该等多个磁轨少于该等N磁轨;取得相关于写入于该等N磁轨之该等多个磁轨之每一磁轨之该跃迁的读回信号;及比较该等读回信号来决定该磁轨距离。18.根据申请专利范围第17项之方法,其中该等N磁轨之该等多个磁轨包含4磁轨。19.根据申请专利范围第17项之方法,其中该写入步骤包含下列步骤:(a)定址该记录装置之一记录磁头成为接触一限制器:(b)利用该定址记录磁头来写入一跃迁于该等N磁轨之该等多个磁轨之一磁轨;(c)重新定址该记录磁头于该等N磁轨之该等多个磁轨之另一磁轨的一预定位置;(d)利用该重新定址记录磁头来写入一跃迁于该等N磁轨之该等多个磁轨之该另一磁轨;(e)重覆步骤(c)与(d)直到资讯写入该等N磁轨之该等多个磁轨之每一磁轨为止。20.根据申请专利范围第19项之方法,其中该重新定址步骤(c)之该预定位置包含一位置,其中来自该记录磁头之该读回信号是在该记录磁头之最大振幅的大约一半。21.根据申请专利范围第19项之方法,该方法进一步包含下列步骤:决定是否该磁轨距离为正确;及当该磁轨距离不正确时调整该记录磁头之该读回信号之値。22.根据申请专利范围第21项之方法,其中该调整步骤包含使用预先定义之方程式来决定该调整値之步骤。23.根据申请专利范围第22项之方法,该方法进一步包含使用该调整値来写入资讯于该等N磁轨之该等多个磁轨之每一磁轨的步骤。24.一种用以决定具有多个储存媒介之一记录装置之多个记录磁头之那一磁头写入最宽的方法,该等多个储存媒介之每一储存媒介具有相关于其之该等多个记录磁头之至少一记录磁头,该方法包含下列步骤:利用该等多个记录磁头之每一记录磁头来写入第一跃迁;利用该等多个记录磁头之每一记录磁头来写入第二跃迁,写入该第二跃迁于距离利用该等多个记录磁头之该磁头写入之第一跃迁一预定距离之处;利用该第二跃迁来定址该等多个记录磁头之每一记录磁头;及读取并比较该定址之记录磁头与相关于该等第一跃迁之每一跃迁的一振幅信号并且藉由比较结果来决定该等多个记录磁头之那一磁头写入最宽。25.根据申请专利范围第24项之方法,其中该定址步骤包含转换该第二跃迁成为一振幅信号之步骤。26.一种用以产生一时序模式于位于一记录装置之多个储存媒介之一储存媒介的方法,该记录装置包含多个内部记录磁头,该等多个记录媒介之每一记录媒介具有相关于其之该等多个内部记录磁头之至少一内部记录磁头,该方法包含下列步骤:(a)利用该等多个内部记录磁头之第一磁头来写入代表一时序模式之第一多个跃迁;(b)定址该等多个内部记录磁头之该第一磁头与该等多个内部记录磁头之第二磁头;(c)利用该等多个内部记录磁头之该定址第一磁头来读取该等第一多个跃迁并且利用该等多个内部记录磁头之该定址第二磁头来写入代表一时序模式之第二多个跃迁;(d)重新定址该等多个内部记录磁头之该第一内部记录磁头与第二内部记录磁头;及(e)利用该等多个内部记录磁头之该重新定址第二磁头来读取该等第二多个跃迁并且利用该等多个内部记录磁头之该重新定址第一磁头来写入第三多个跃迁。27.根据申请专利范围第26项之方法,该方法进一步包含下列步骤:重覆步骤(b)-(e)直到该时序模式产生于该等多个储存媒介之该储存媒介的一整个表面为止。28.根据申请专利范围第26项之方法,其中该重新定址步骤包含下列步骤:移动该等多个内部记录磁头之该第一内部记录磁头与第二内部记录磁头至一位置,其中相关于该等第一多个跃迁之一振幅信号是在该信号之最大値的大约一半。29.一种用以写入伺服模式于储存媒介之系统,该储存媒介位于具有一内部记录磁头之记录装置,该储存媒介包含多个径向区,每一径向区具有多个磁轨,该系统包含:利用该内部记录磁头来写入时序模式于该储存媒介之装置:根据该等多个径向区之至少一区之该内部记录磁头所传输之模式来决定该区之径向位置値的装置,该径向位置値是用以径向定址该内部记录磁头;及利用该内部记录磁头来写入伺服模式于该储存媒介的装置,该伺服模式写入藉由该时序模式与该径向位置値所决定之位置。30.根据申请专利范围第29项之系统,其中该记录装置包含多个内部记录磁头且该系统进一步包含用以决定该等多个内部记录磁头之那一磁头写入最宽的装置。31.根据申请专利范围第30项之系统,其中该记录装置包含多个储存媒介,该等多个储存媒介之每一储存媒介具有相关于其之该等多个内部记录装置之至少一内部记录装置,且其中用以决定该等多个内部记录磁头之那一磁头写入最宽的该装置进一步包含:利用该等多个内部记录磁头之每一内部记录磁头来写入第一跃迁的装置;利用该等多个内部记录磁头之一内部记录磁头来写入第二跃迁的装置,写入该第二跃迁于距离利用该等多个内部记录磁头之该磁头写入之第一跃迁一预定径向距离之处;利用该第二跃迁来定址该等多个内部记录磁头之每一内部记录磁头的装置;及用以读取并比较该定址之记录磁头与相关于该等第一跃迁之每一跃迁的一振幅信号的装置并且藉由比较结果来决定该等多个内部记录磁头之那一磁头写入最宽。32.根据申请专利范围第31项之系统,其中该预定径向距离是在用以写入该第二跃迁之该等内部记录磁头之该内部记录磁头的读回信号是该信号之最大振幅之大约一半之处。33.根据申请专利范围第30项之系统,其中判定为写入最宽之该内部记录磁头是用以产生该时序模式。34.根据申请专利范围第30项之系统,其中判定为写入最宽之该内部记录磁头是用以写入该伺服模式。35.根据申请专利范围第29项之系统,其中该储存媒介包含N磁轨且该径向位置决定装置包含:用以写入至少一跃迁于该等N磁轨之一部份的装置,该等N磁轨之该部份少于该等N磁轨;用以取得写入于该等N磁轨之该部份每一磁轨之该等至少一跃迁之读回信号的装置;及利用该等读回信号来决定该径向位置値的装置。36.根据申请专利范围第29项之系统,其中该产生装置包含:用以写入第一多个跃迁于该储存媒介之多个磁轨之第一磁轨的装置;及用以写入第二多个跃迁于该储存媒介之该等多个磁轨之第二磁轨的装置,以对应之第一时间延迟来写入该等第二多个跃迁之第一部份的每一跃迁并且以对应之第二时间延迟来写入该等第二多个跃迁之第二部份的每一跃迁。37.根据申请专利范围第36项之系统,其中该等多个跃迁之该对跃迁包含一奇数号码跃迁与一偶数号码跃迁。38.根据申请专利范围第29项之系统,其中该记录装置包含多个内部记录磁头与多个记录媒介,该等多个记录媒介之每一记录媒介具有相关于其之该等多个内部记录磁头之至少一内部记录磁头,且其中该产生装置进一步包含:利用该等多个内部记录磁头之第一内部记录磁头来写入代表一时序模式之第一多个跃迁的装置;用以定址该等多个内部记录磁头之该第一内部记录磁头与该等多个内部记录磁头之第二内部记录磁头的装置;利用该等多个内部记录磁头之该定址第一内部记录磁头来读取该等第一多个跃迁并且利用该等多个内部记录磁头之该定址第二内部记录磁头来写入代表一时序模式之第二多个跃迁的装置;用以重新定址该等多个内部记录磁头之该第一内部记录磁头与第二内部记录磁头的装置;及利用该等多个内部记录磁头之该重新定址第二内部记录磁头来读取该等第二多个跃迁并且利用该等多个内部记录磁头之该重新定址第一内部记录磁头来写入第三多个跃迁的装置。39.一种用以产生一时序模式于具有多个磁轨之一储存媒介的系统,该系统包含:用以写入第一多个跃迁于该储存媒介之第一径向位置的装置;用以决定该等第一多个跃迁之选择对间之一时间间隔的装置;用以决定每一决定时间间隔与一预定额定间隔间之偏移量以致该等第一多个跃迁之每一选择对具有对应之决定偏移量的装置;及写入第二多个跃迁于该储存媒介之第二径向位置的装置,该等第二多个跃迁之每一跃迁是以紧接该等第一多个跃迁之一先前跃迁之一对应时间延迟来写入,该对应时间延迟是由该额定时间间隔与该对应决定偏移量之函数来决定,以致相关于写入该等第一多个跃迁之随机误差之传输在写入该等第二多个跃迁中受到降低,因而校准该等第二多个跃迁与该等第一多个跃迁之对应跃迁所导致之随机误差降低。40.根据申请专利范围第39项之系统,其中该第一多个跃迁之一对跃迁包含一奇数号码跃迁与一偶数号码跃迁。41.根据申请专利范围第39项之系统,其中该等第二多个跃迁之该第一部份代表多个偶数号码跃迁且其中该等第一时间延迟之每一时间延迟包含该预定额定间隔加上相关于该等第一多个跃迁之一对跃迁之偏移量的一部份,且其中该等第二多个跃迁之该第一部份的每一跃迁对应于该等第一多个跃迁之该对跃迁的一跃迁。42.根据申请专利范围第41项之系统,其中利用写入于该第一径向位置之该等奇数号码跃迁做为触发点来写入该等多个偶数号码跃迁。43.根据申请专利范围第40项之系统,其中该等第二多个跃迁之该第二部份代表多个奇数号码跃迁且其中该等第二时间延迟之每一时间延迟包含一预定额定间隔。44.根据申请专利范围第43项之系统,其中利用写入于该第一径向位置之该等偶数号码跃迁做为触发点来写入该等多个奇数号码跃迁。45.一种用以决定包含一储存媒介之一记录装置之磁轨距离的系统,该储存媒介具有N磁轨,该系统包含:用以写入一跃迁于该等N磁轨之多个磁轨的装置,该等N磁轨之该等多个磁轨少于该等N磁轨;用以取得一读回信号之装置,该读回信号相关于写入于该等N磁轨之该等多个磁轨之每一磁轨之该跃迁;及用以比较该等读回信号来决定该磁轨距离的装置。46.根据申请专利范围第45项之系统,其中该等N磁轨之该等多个磁轨包含4磁轨。47.根据申请专利范围第45项之系统,其中该写入装置包含:用以定址该记录装置之一记录磁头成为接触一限制器的装置;利用该定址记录磁头来写入一跃迁于该等N磁轨之该等多个磁轨之一磁轨的装置;用以重新定址该记录磁头于该等N磁轨之该等多个磁轨之另一磁轨之一预定位置的装置;及利用该重新定址记录磁头来写入一跃迁于该等N磁轨之该等多个磁轨之该另一磁轨的装置。48.根据申请专利范围第47项之系统,其中该重新定址装置之该预定位置包含一位置,其中来自该记录磁头之该读回信号是在该记录磁头之最大振幅的大约一半。49.根据申请专利范围第47项之系统,该系统进一步包含:用以决定是否该磁轨距离为正确的装置;及用以当该磁轨距离不正确时调整该记录磁头之该读回信号之値的装置。50.根据申请专利范围第49项之系统,其中该调整装置包含使用预先定义之方程式来决定该调整値之装置。51.根据申请专利范围第50项之系统,该系统进一步包含使用该调整値来写入资讯于该等N磁轨之该等多个磁轨之每一磁轨的装置。52.一种用以决定具有多个储存媒介之一记录装置之多个记录磁头之那一磁头写入最宽的系统,该等多个储存媒介之每一储存媒介具有相关于其之该等多个记录磁头之至少一记录磁头,该系统包含:利用该等多个记录磁头之每一记录磁头来写入第一跃迁的装置;利用该等多个记录磁头之一记录磁头来写入第二跃迁的装置,写入该第二跃迁于距离利用该等多个记录磁头之该磁头写入之第一跃迁一预定距离之处;利用该第二跃迁来定址该等多个记录磁头之每一记录磁头的装置;及用以读取并比较该定址之记录磁头与相关于该等第一跃迁之每一跃迁之一振幅信号并且藉由比较结果来决定该等多个记录磁头之那一磁头写入最宽的装置。53.根据申请专利范围第52项之系统,其中该定址装置包含转换该第二跃迁成为一振幅信号之装置。54.一种用以产生一时序模式于位于一记录装置之多个储存媒介之一储存媒介的系统,该记录装置包含多个内部记录磁头,该等多个记录媒介之每一记录媒介具有相关于其之该等多个内部记录磁头之至少一内部记录磁头,该系统包含:利用该等多个内部记录磁头之第一内部记录磁头来写入代表一时序模式之第一多个跃迁的装置;用以定址该等多个内部记录磁头之该第一内部记录磁头与该等多个内部记录磁头之第二内部记录磁头的装置;利用该等多个内部记录磁头之该定址第一内部记录磁头来读取该等第一多个跃迁并且利用该等多个内部记录磁头之该定址第二内部记录磁头来写入代表一时序模式之第二多个跃迁的装置;用以重新定址该等多个内部记录磁头之该第一内部记录磁头与第二内部记录磁头的装置;及利用该等多个内部记录磁头之该重新定址第二内部记录磁头来读取该等第二多个跃迁并且利用该等多个内部记录磁头之该重新定址第一内部记录磁头来写入第三多个跃迁的装置。55.根据申请专利范围第54项之系统,其中该重新定址装置包含装置以移动该等多个内部记录磁头之该第一内部记录磁头与第二内部记录磁头至一位置,其中相关于该等第一多个跃迁之一振幅信号是在该信号之最大値的大约一半。56.一种记录装置,该记录装置包含:一位于该记录装置内之储存媒介,该储存媒介包含多个径向区,每一径向区包含多个磁轨;一位于该记录装置之内部记录磁头,该内部记录磁头是用以产生一时序模式于该储存媒介,产生用以决定一径向位置値之一模式来径向定址该内部记录磁头,及用以写入一伺服模式于该储存媒介;及根据该等多个径向区之至少一区之该内部记录磁头所传输之模式来决定该区之径向位置値的装置,该径向位置値是用以径向定址该内部记录磁头。57.根据申请专利范围第1项之方法,其中决定一径向位置値之步骤包含决定每一径向区之一径向位置値。58.根据申请专利范围第8项之方法,该方法进一步包含下列步骤:决定该等第一多个跃迁之每一对跃迁之间之一时间间隔;及决定每一决定时间间隔与一预定额定间隔间之偏移量,以致该等第一多个跃迁之每一对跃迁具有对应之决定偏移量。59.根据申请专利范围第58项之方法,其中该等第一时间延迟之每一时间延迟是基于该预定额定间隔与相关于该等第一多个跃迁之一对跃迁之偏移量的函数来决定,且其中该等第二多个跃迁之该第一部份之每一跃迁对应于该等第一多个跃迁之该对跃迁的一跃迁。60.根据申请专利范围第58项之方法,其中该等第一时间延迟之每一时间延迟包含该预定额定间隔加上相关于该等第一多个跃迁之一对跃迁之偏移量的一部份,且其中该等第二多个跃迁之该第一部份之每一跃迁对应于该等第一多个跃迁之该对跃迁的一跃迁。61.根据申请专利范围第58项之方法,其中该等第一时间延迟之每一时间延迟是基于该预定额定间隔与相关于该等第一多个跃迁之一对跃迁之偏移量的函数来决定,且其中该等第二多个跃迁之该第一部份之每一跃迁对应于该等第一多个跃迁之该对跃迁的一跃迁。62.根据申请专利范围第11项之方法,该方法进一步包含重覆下列步骤:决定一时间间隔,决定一偏移量与写入该等多个磁轨之每一磁轨的第二多个跃迁。63.根据申请专利范围第29项之系统,其中用以决定一径向位置値之装置包含用以决定每一径向区之一径向位置値的装置。98.根据申请专利范围第36项之系统,该系统进一步包含:用以决定该等第一多个跃迁之每一对跃迁间之一时间间隔的装置;及用以决定每一决定时间间隔与一预定额定间隔间之偏量量以致该等第一多个跃迁之每一对跃迁具有对应之决定偏移量的装置。99.根据申请专利范围第64项之系统,其中该等第一时间延迟之每一时间延迟是基于该预定额定间隔与相关于该等第一多个跃迁之一对跃迁之偏移量的函数来决定,且其中该等第二多个跃迁之该第一部份之每一跃迁对应于该等第一多个跃迁之该对跃迁的一跃迁。100.根据申请专利范围第64项之系统,其中该等第一时间延迟之每一时间延迟包含该预定额定间隔加上相关于该等第一多个跃迁之一对跃迁之偏移量的一部份,且其中该等第二多个跃迁之该第一部份之每一跃迁对应于该等第一多个跃迁之该对跃迁的一跃迁。101.根据申请专利范围第39项之系统,其中该等第一时间延迟之每一时间延迟是基于该预定额定间隔与相关于该等第一多个跃迁之一对跃迁之偏移量的函数来决定,且其中该等第二多个跃迁之该第一部份之每一跃迁对应于该等第一多个跃迁之该对跃迁的一跃迁。102.根据申请专利范围第11项之方法,其中该等第二多个跃迁包含第一部份之跃迁与第二部份之跃迁,第一部份之每一跃迁是以对应之第一时间延迟来写入,而第二部份之每一跃迁是以对应之第二时间延迟来写入。103.根据申请专利范围第39项之方法,其中该等第二多个跃迁包含第一部份之跃迁与第二部份之跃迁,第一部份之每一跃迁是以对应之第一时间延迟来写入,而第二部份之每一跃迁是以对应之第二时间延迟来写入。图示简单说明:图1a描写融入本发明之伺服模式写入技术之磁碟机的一范例;图1b描写具有多个记录磁头之磁碟机之侧视图的一范例,根据本发明之原理;图2描写相关于本发明之伺服模式写入技术之逻辑的一范例;图3描写相关于用以决定写入最宽磁轨之磁头之技术之逻辑的一范例,根据本发明之原理;图4显示分隔成N圆周派磁区之磁碟表面的一实例,根据本发明之原理;图5描写信号振幅与记录磁头之离轨位置之关系图的一范例,根据本发明之原理;图6描写相关于一种用以决定磁轨距离之技术之逻辑的一范例,根据本发明之原理;图7显示分隔成N圆周派磁区之磁碟表面的一实例,且四突波写入一磁区,根据本发明之原理;图8描写展示读回信号振幅与记录磁头之径向位置之关系图的一范例,且其中存在正确之磁轨距离,根据本发明之原理;图9描写展示读回信号振幅与记录磁头之径向位置之关系图的一范例,且其中存在不正确之磁轨距离,根据本发明之原理;图10描写相关于写入时序模式于一磁碟之逻辑的一实例,该磁碟定址于图1之磁碟机之内,根据本发明之原理;图11描写磁碟机之不可重覆型速度抖动频谱密度之图形的一范例;图12描写图11之磁碟之抖动与时间间隔之关系图的一范例;图13描写展示均方根抖动与步阶数目之关系图的一范例,根据本发明之原理;图14a显示一径向时序标记轨迹,其中自奇数跃迁产生偶数跃迁之过程中未增加部份至额定时间间隔,根据本发明之原理;图14b显示一径向时序标记轨迹,其中自奇数跃迁产生偶数跃迁之过程中增加部份1至额定时间间隔,根据本发明之原理;图14c显示一径向时序标记轨迹,其中自奇数跃迁产生偶数跃迁之过程中增加部份1/2至额定时间间隔,根据本发明之原理;图15描写显示沿一径向时序标记之位置误差与步阶数目之关系图的一范例,根据本发明之原理;图16描写相关于写入伺服模式于磁碟表面之逻辑的一范例,根据本发明之原理;图17描写相关于传送图16之伺服模式至其他磁碟表面之逻辑的一范例,根据本发明之原理;图18描写相关于利用二磁头来写入时序资讯于磁碟表面之 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