发明名称 |
半导体器件及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种半导体器件。所述半导体器件包括:位于衬底上的第一鳍型图案;位于衬底上的第一层间绝缘层,其覆盖第一鳍型图案并且包括第一沟槽,所述第一沟槽与第一鳍型图案交叉;第一栅电极,其位于填充第一沟槽的第一鳍型图案上,第一栅电极的上表面与第一层间绝缘层的上表面共面;封盖层,其沿着第一层间绝缘层的上表面并且沿着第一栅电极的上表面延伸;以及位于封盖层上的第二层间绝缘层,所述第二层间绝缘层包括与封盖层的材料不同的材料。 |
申请公布号 |
CN106257688A |
申请公布日期 |
2016.12.28 |
申请号 |
CN201610397697.X |
申请日期 |
2016.06.07 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
金柱然 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 |
代理人 |
张帆;张青 |
主权项 |
一种半导体器件,包括:第一鳍型图案,其设置在衬底上;第一层间绝缘层,其设置在衬底上,覆盖第一鳍型图案并且包括第一沟槽,所述第一沟槽与第一鳍型图案交叉;第一栅电极,其设置在第一鳍型图案上,所述第一栅电极填充第一沟槽,第一栅电极的上表面与第一层间绝缘层的上表面共面;封盖层,其覆盖第一层间绝缘层的上表面和第一栅电极的上表面;以及第二层间绝缘层,其设置在封盖层上,所述第二层间绝缘层包括与封盖层的材料不同的材料。 |
地址 |
韩国京畿道 |