| 发明名称 |
Random Wavelength meter |
| 摘要 |
스페클 패턴(speckle pattern)을 생성하기 위해 광을 산란하고 그에 의해 광을 랜덤화하는(randomizing), 무작위로 배치된 다수의 산란기를 갖는 랜더마이저(randomizer)와, 광의 적어도 하나의 광 특성 및/또는 광의 적어도 하나의 광 특성의 변화를 판단하기 위해 스페클 패턴을 검출하는 검출기를 포함하는 광학 시스템. |
| 申请公布号 |
KR20160120269(A) |
申请公布日期 |
2016.10.17 |
| 申请号 |
KR20167013912 |
申请日期 |
2014.10.29 |
| 申请人 |
THE UNIVERSITY COURT OF THE UNIVERSITY OF ST ANDREWS |
发明人 |
DHOLAKIA KISHAN;MAZILU MICHAEL;METZGER KLAUS |
| 分类号 |
G01J9/02;G01J1/04;G01J1/42;G01J3/02;G01J4/00 |
主分类号 |
G01J9/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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