发明名称 测量物品尺寸的装置
摘要 一刻度具有被排列成矩阵且成点对称形状之诸标记,该刻度与一被测量尺寸之物品以彼此间无任何相对运动的关系被放置,一影像感测器单元适当地及依序地侦测该物品之一预定部份与对应该物品预定部份之刻度标记,而影像感测器单元依侦测该物品及该刻度之结果产生诸输出信号,该诸输出信号被经处理而计算该物品之尺寸。一种可避免视差发生之测量物品尺寸的装置被提供,于是获得令人满意之改善的测量准确性。于该装置中一物品与一标记器系被放置成:该物品与一读取单元间的光学距离等于该该标记器与该读取单元间的光学距离。
申请公布号 TW326492 申请公布日期 1998.02.11
申请号 TW084112654 申请日期 1995.11.28
申请人 EM股份有限公司 发明人 星山浩树
分类号 G01B11/02 主分类号 G01B11/02
代理机构 代理人 林圣富 台北巿和平东路二段二○三号四楼
主权项 1.一种测量物品尺寸之装置,包含:一台桌,该台桌具有一待测物品可被放置的第一平坦表面;平行于该台桌并设置于第二平坦表面的一标记器板,其具有一代表测量单元包括座标、尺寸或角度的标记器;一设于第三平坦表面的半镜机构,其被放置成:介于该物品与该半镜机构之间的光学距离等于该标记器与该半镜构之间的光学距离;一读取机构,其用于读取对应于该物品上一任意点的値,及利用透过该半镜机构的光和从该半镜机构反射的光而位于该标记器板之标记器上之对应于该任意点的値。2.如申请专利范围第1项所述之装置,其中:于读取过程中该台桌、该标记器板及该半镜机构相对于该读取机构为固定的,该读取机构可依一个或两个方向移动。3.如申请专利范围第1项所述之装置,其中:于读取过程中该读取机构相对于该台桌、该标记器板及该半镜机构为固定的,该台桌、该标记器板及该半镜机构可依一个或两个方向移动。4.一种测量物品尺寸之装置,包含:一台桌,该台桌具有一待测物品可被放置的第一平坦表面;设置于一平行于该台桌的第二平坦表面上的一标记器板,其具有一代表测量单元包括座标、尺寸或角度的标记器;一设于第三平坦表面的半镜机构,其被放置成:介于该物品与该半镜机构之间的光学距离等于该标记器与该半镜构之间的光学距离;一光学侦测机构,其用于选择性侦测该物品之一预定点与对应该物品预定点之标记器的値,此光学侦测机构设有一焦距调整系统,此焦距调整系统具有一小于该标记器板与该物品两者间距离的焦点深度。图示简单说明:第一A至一H图表示本发明之一测量物品尺寸之装置之第一实施例之解说图表,其中第一图A表示该装置本身,第一A图表示使用于该装置上之刻度,第一C图表示刻度上之标记,第一D图表示使用于该装置中之影像感测器单元,第一E图表示一在该装置中之受测物品,而第一F图至第一图H表示影像感测器单元中之诸CCD感测器与该装置中之一刻度标记间之关系,以及第二至四图表示本发明之测量物品尺寸之装置之第二至第四实施例之解说图表。第五图为一示意图其显示了一依据本发明之第5具体实施例所完成之测量物品尺寸的装置。第六及七图均为示意图其等显示了习知技艺之测量物品尺寸的装置。
地址 日本