发明名称 三阶相关测量仪
摘要 一种三阶相关测量仪,主要适用于激光脉冲对比度的测量。它包括在外壳的底板上沿光束前进方向上,依次固定有小孔光阑,反射镜,倍频晶体,透反膜板;光束经透反膜板后分成透射光束G<SUB>t</SUB>和反射光束G<SUB>f</SUB>,两束光G<SUB>t</SUB>和G<SUB>f</SUB>分别经过时间延迟的直角反射镜和短焦距透镜以及长焦距透镜同时会聚于能够产生三次谐波的谐波晶体上。产生的三次谐波光束G<SUB>s</SUB>经反射镜,滤波片至探测元件。它具有调整简单,使用方便,保证精确地测量,分辨率大于10<SUP>6</SUP>的特点。
申请公布号 CN2293816Y 申请公布日期 1998.10.07
申请号 CN97241898.9 申请日期 1997.10.15
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 王益民;徐至展;张正泉
分类号 G01J1/22;H01S3/109 主分类号 G01J1/22
代理机构 上海华东专利事务所 代理人 李兰英
主权项 1.一种三阶相关测量仪,包括在外壳的底板(20)上,沿着入射光束Gr前进的方向上,依次固定有小孔光阑(1),反射镜(2),倍频晶体(3),小孔光阑(4),反射镜(5),反射镜(6),透反膜板(7),入射光束Gr经过透反膜板(7)后分成两束光,一束是透射光束Gt,另一束是反射光束Gf,透射光束Gt经过时间延迟的直角反射镜(8)与反射光束Gf同时会聚于谐波晶体(13)上,其特征在于沿着经过直角反射镜(8)后透射光束Gt前进的方向上,在底板(20)上依次固定有反射镜(9),短焦距透镜(12),由短焦距透镜(12)将透射光束Gt 会聚于谐波晶体(13)上;沿着透反膜板(7)反射的反射光束Gf前进的方向上,在底板(20)上依次固定有滤光片(21),反射镜(10),长焦距透镜(11),由长焦距透镜(11)将反射光束Gf也会聚于谐波晶体(13)上;沿着谐波晶体(13)产生的三次谐波光束Gs前进的方向上,在底板(20)上依次固定有反射镜(14),(15),(17),滤波片(18)至探测元件(19);在反射镜(15)与(17)之间,置有一组定标衰减片(16)。
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