发明名称 | 半导体集成电路及其测试方法 | ||
摘要 | 一种半导体集成电路,集成了模拟电路和数字电路,并具有第一选择器部分,用于在从模拟电路和数字电路之一输入的信号和从第一外输入端输入的信号之间进行选择,将选择结果输入至模拟电路和数字电路中的另一个。因此,通过第一选择器部分的适当切换,就可以有选择地连接或断开模拟电路与数字电路之间以及与第一外输入端之间的连接。从而,通过由第一外输入端输入一个测试信号,就可以对模拟电路或数字电路的操作进行单独检查。 | ||
申请公布号 | CN1248101A | 申请公布日期 | 2000.03.22 |
申请号 | CN99119086.6 | 申请日期 | 1999.09.14 |
申请人 | 日本电气株式会社 | 发明人 | 富永正志 |
分类号 | H03M1/10;H01L21/66 | 主分类号 | H03M1/10 |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 穆德骏;余朦 |
主权项 | 1.一种集成了模拟电路和数字电路的半导体集成电路,其特征在于,由所述模拟电路和所述数字电路之一输出的信号被输入到所述模拟电路和所述数字电路中的另一个当中,所述半导体集成电路含有:第一选择器部分,它可响应一个模式切换信号,或者选中从所述模拟电路和所述数字电路之一输出的信号,或者选中从一第一外部端输入的信号,并将选中的信号输入至所述模拟电路和所述数字电路中的另一个当中。 | ||
地址 | 日本东京 |