| 摘要 |
<p>L'invention concerne un procédé de localisation et d'isolation d'un processus errant, consistant à extraire une sélection d'images d'une base de données d'images défectueuses, chaque image possédant un contenu d'image similaire au contenu d'image extrait d'une image demandée représentant un défaut, et chaque image de la sélection possédant des données de caractérisation de défaut correspondantes; à dériver à partir desdites données de caractérisation de défaut une distribution de probabilité conditionnelle du défaut apparu dans une phase de processus particulière; et, à identifier cette phase de processus comme une source éventuelle principale de défauts en fonction de la distribution de probabilité conditionnelle dérivée. Le procédé permettant d'identifier un défaut dans une phase de processus consiste à caractériser des anomalies dans un produit, lesdites anomalies étant détectées par un système de formation d'images; à acquérir une image demandée d'un défaut de produit; à corréler une anomalie particulière caractérisée avec ladite image demandée; et, à identifier une phase de processus errant associée à l'image corrélée.</p> |
