发明名称 距离变化检测方法及距离变化检测装置、聚焦控制方法及聚焦控制装置、以及全反射光检测方法
摘要 本发明是在光盘激励装置中,为了使数值孔径变大,使立体遮蔽透镜(SIL)或立体遮蔽反射镜(SIM)等介于物镜和光盘之间,在此情况下,高精度地检测SIL或SIM与光盘间的距离变化,能进行高精度的聚焦控制。本发明备有:检测以数值孔径比1大的入射角从物镜(1)入射到SIL(2)或SIM后在SIL(2)或SIM中与光盘相对的面上反射的反射光的光检测装置(8)、检测向物镜1入射的入射光的光检测装置(10)、求用光检测装置(8)及(10)检测到的光量比的比较装置(11)、以及根据该比值控制聚焦调节机构的驱动的控制装置(11)。
申请公布号 CN1292136A 申请公布日期 2001.04.18
申请号 CN99803403.7 申请日期 1999.10.27
申请人 索尼公司 发明人 今西慎悟
分类号 G11B7/09;G11B7/135;G01B11/00;G01C3/06 主分类号 G11B7/09
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 刘宗杰;叶恺东
主权项 1.一种距离变化检测方法,该方法是检测光学系统中的所述第2光学装置与所述光学记录媒体间的距离变化的方法,该光学系统具有:使应照射在光学记录媒体上的光聚焦的第1光学装置、以及为了实现比上述第1光学装置的数值孔径大的数值孔径,介于该第1光学装置和上述光学记录媒体之间的第2光学装置,该距离变化检测方法的特征在于:检测以数值孔径比规定值大的入射角从上述第1光学装置入射到上述第2光学装置后在该第2光学装置中与上述光学记录媒体相对的面上反射的反射光,根据上述反射光的光量检测上述距离的变化。
地址 日本东京都