发明名称 材料损坏的测量仪
摘要 一种材料损坏的测量仪,它包括在外壳内,沿着激光器发射光束前进的方向上,同光轴地依次置有扩束镜,反射面与光轴成α角置放的半反半透镜、偏振片、偏振棱镜、凸透镜以及供置放含有损坏点的待测材料的调整架。发射光束穿过含有损坏点的待测材料后射到在光路端点处的全反射镜上被反射后沿原光路返回。在半反半透镜反射光束的方向上置有显示观测器件。具有光路简单紧凑、易于调整、使用方便、成本低、测量精度高的优点。主要适用于透明材料。
申请公布号 CN2433619Y 申请公布日期 2001.06.06
申请号 CN00218672.1 申请日期 2000.08.03
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 朱鹏飞;孟绍贤
分类号 G01N21/88;G01N21/896 主分类号 G01N21/88
代理机构 上海华东专利事务所 代理人 李兰英
主权项 1.一种材料损坏的测量仪,包括:<1>外壳(16)内置有的激光器(1),在外壳(16)内,沿着激光器(1)发射光束(G0)前进的方向上,与激光器(1)同光轴(OO)地依次置有偏振片(2)、偏振棱镜(3)、凸透镜(4)以及供置放含有损坏点(6)的待测材料(5)的调整架(15);其特征在于:<2>在光路的端点处置有反射镜(14);<3>在激光器(1)与偏振片(2)之间的光路上,与激光器(1)同光轴(OO)地置有扩束镜(12);<4>在扩束镜(12)与偏振片(2)之间的光路上置有反射面与激光器(1)的光轴(OO)成α角的半反半透镜(13),其中α角的角度为0°<α<90°;<5>在半反半透镜(13)相对偏振片(2)的反射面所反射的反射光束(Gf)的方向上置有显示观测器件(17)。
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