发明名称 光学资讯记录媒体之记录,再生方法及光学资讯记录媒体
摘要 信号记录时系藉由推挽法或机械供给以进行跟踪控制,再生时系藉由相位差跟踪法以进行跟踪控制,藉此以实现可相位差再生且可重写之相变化型光碟。又,在具有相位差构造之相变化光碟中,藉由使得未记录部分的反射率高于记录标记部的反射率,以安定地控制信号再生时的伺服。
申请公布号 TW452793 申请公布日期 2001.09.01
申请号 TW087104255 申请日期 1998.03.21
申请人 松下电器产业股份有限公司 发明人 长田 宪一;山田 昇;赤平信夫;西内健一
分类号 G11B7/24 主分类号 G11B7/24
代理机构 代理人 林镒珠 台北市长安东路二段一一二号九楼
主权项 1.一种光学资讯记录媒体之记录、再生方法,系使用在具有导沟之圆盘状基板上、至少具备可藉雷射光之照射而在非晶质状态与结晶状态间产生相变化的记录薄膜所构成之光学资讯记录媒体,基于资讯信号以照射雷射光,使用得自前述基板的导沟之跟踪误差信号而在施加跟踪伺服,藉由在前述记录薄膜上形成记录标记以记录所望的信号;对在记录薄膜上形成有记录标记之光学资讯记录媒体照射雷射光,而基于得自前述记录标记之跟踪误差信号,以在施加跟踪伺服下将信号再生。2.如申请专利范围第1项所述之光学资讯记录媒体之记录、再生方法,其中,将信号记录于记录薄膜时之跟踪方式为推挽法。3.如申请专利范围第1项所述之光学资讯记录媒体之记录、再生方法,其中,将记录于记录薄膜的信号再生时之跟踪方式为相位差跟踪法。4.如申请专利范围第1项所述之光学资讯记录媒体之记录、再生方法,其中,导沟之沟深为d(nm)、记录用的雷射光之波长为1(nm)、对于波长1基板的折射率为n1时,前述沟深d1及n1之关系为:0.051/n1≦d当用以将形成于记录薄膜上之记录标记再生的雷射光的波长为2(nm),对于波长1基板的折射率为n2时,前述沟深d与2及n2之关系为:d≦0.092/n2且1与2之关系为:1≦2。5.如申请专利范围第1项所述之光学资讯记录媒体之记录、再生方法,其中,对于再生用的雷射光之波长2的入射,来自光学资讯记录媒体的记录标记之反射光的相位1.和来自记录标记与记录标记间的非记录标记区域之反射光之相位2间之关系为:(2n+0.5)<2-1<(2n+1)(其中n为整数)之场合,系在基板的沟间记录信号;前述关系为:(2n+1)<2-1<(2n+1.5)(其中n为整数)之场合,系在基板的沟部记录信号。6.如申请专利范围第1项所述之光学资讯记录媒体之记录、再生方法,其中,记录标记再生用的雷射光之波长2的値为630nm以上、670nm以下,导沟的间隔为0.74m,记录信号的线密度为0.267m/位元,信号的调变方式为8/16,RLL(2,10)。7.一种光学资讯记录媒体之记录、再生方法,系使用在具有镜面状的记录区域之圆盘状基板上、至少具备可藉雷射光之照射而在非晶质状态与结晶状态间产生相变化的记录薄膜所构成之光学资讯记录媒体,在基板转动下,将雷射光照射移动成记录信号的半径方向的间隔形成一定时,基于资讯信号以照射雷射光,藉由在前述记录薄膜上产生相变化以形成记录标记而将所望的信号在半径方向以一定的间隔加以记录;对在记录薄膜上形成有记录标记之光学资讯记录媒体照射雷射光,而基于得自前述记录标记之跟踪误差信号,以在施加跟踪伺服下将信号再生。8.如申请专利范围第7项所述之光学资讯记录媒体之记录、再生方法,其中,将记录于记录薄膜的信号再生时之跟踪方式为相位差跟踪法。9.如申请专利范围第7项所述之光学资讯记录媒体之记录、再生方法,其中,记录标记再生用的雷射光之波长2的値为630nm以上、670nm以下,导沟之间隔为0.74m,记录信号的线密度为0.267m/位元,信号的调变方式为:8/16,RLL(2,10)。10.如申请专利范围第1或第7项所述之光学资讯记录媒体之记录、再生方法,其中,基于资料信号以在记录薄膜上形成记录标记时,至少令前述记录标记形成用的记录薄膜预先结晶化,之后照射雷射光,以形成非晶质构成的记录标记。11.一种光学资讯记录媒 体,系在具有沟深d(nm)的导沟之圆盘状基板上、至少具备可藉雷射光之照射而在非晶质状态与结晶状态间产生相变化的记录薄膜而构成之光学资讯记录媒体,其特征在于:当用以基于资讯信号于前述记录薄膜上形成记录标记之雷射光的波长为1(nm)、对于波长1基板的折射率为n1时,前述沟深d与1及1之关系为:0.051/n1≦d当用以将形成于记录薄膜上之记录标记再生的雷射光的波长为2(nm)、对于波长2基板的折射率为n2,前述沟深d与2及2之关系为:d≦0.092/n2对于波长2的雷射光之来自记录标记的反射光之相位1和来自非记录标记区域之反射光的相位2间之关系为:(2n+0.7)<2-1<(2n+1.3)(其中n为整数),对于波长2(nm)的雷射光之入射,来自前述光学资讯记录媒体的记录标记之反射光的振幅强度I1和来自非记录标记区域之反射光的振幅强度I2间之关系为:I1<I2。12.一种光学资讯记录媒体,系在圆盘状基板上、至少具备可藉雷射光之照射而在非晶质状态与结晶状态间产生相变化的记录薄膜而构成之光学资讯记录媒体,其特征在于:对于用以将前述光学资讯记录媒体上所记录的信号再生而照射之波长2的雷射光,来自光学资讯记录媒体的记录标记之反射光之相位1和来自非记录标记区域之反射光的相位2间之关系为:(2n+0.7)<2-1<(2n+1.3)(其中n为整数),对于波长2(nm)的雷射光之入射,来自光学资讯记录媒体的记录标记之反射光的振幅强度I1和来自非记录标记区域之反射光的振幅强度I2间的关系为:I1<I1。13.如申请专利范围第12项所述之光学资讯记录媒体,其中,记录区域中的基板表面为镜面且不具导沟。14.如申请专利范围第11或第12项所述之光学资讯记录媒体,其中,对于波长2(nm)的雷射光之入射,来自前述光学资讯记录媒体的记录标记之反射光的振幅强度I1和来自非记录标记区域之反射光的振幅强度I2间的关系为:1.3<I1/I2<3。15.如申请专利范围第11或第12项所述之光学资讯记录媒体,其中,记录标记中光学资讯记录媒体的记录薄膜为非晶质状态,非记录标记区域中光学资讯记录媒体的记录薄膜为结晶状态。16.如申请专利范围第11或第12项所述之光学资讯记录媒体,其中,记录标记中光学资讯记录媒体的记录薄膜为结晶状态,非记录标记区域中光学资讯记录媒体的记录薄膜为非晶质状态。17.如申请专利范围第11或第12项所述之光学资讯记录媒体,其中,构成记录薄膜的元素,系包含择自惰性气体元素及(B,C,Al,Si,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Zr,Ni,Se,Nb,Sb,Ta,W,Au,Pb,Bi)等元素所构成群中之至少1种元素,且这些元素中Ge与Te以外的元素之原子量的和,相对Ge与Te的原子量和为10%以下。18.如申请专利范围第11或第12项所述之光学资讯记录媒体,其中,基板上依序形成有保护层、记录薄膜、保护层、反射层,且记录薄膜的膜厚为20nm以下。19.如申请专利范围第11或第12项所述之光学资讯记录媒体,其中,构成记录薄膜的主元素为Ge与Te,Ge与Te之原子量比在45:55-55:45之范围内。图式简单说明:第一图系显示依本发明的第1实施形态之光学资讯记录媒体的积层构造的概略之半径方向的断面图。第二图系显示依本发明的第1实施形态之光学资讯记录媒体的积层构造的概略之半径方向的断面图。第三图系显示将信号记录于本发明的光学资讯记录媒体上的场合所用之记录机的构成例。第四图系显示GeTe与Sb2Te32组成所结合成的组成之对于波长650nm之光学常数。第五图系显示Ge-Te2元系材料的GeTe附近组成之对于波长650mm之光学常数。第六图系显示在本发明的光学资讯记录媒体上将信号记录、再生的场合所用之记录、再生机的构成例。第七图系显示本发明的实施例中将资讯记号于光碟片时记录脉波的调变波形的一例。
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