| 主权项 |
1.一种用于电脑储存媒体中写入位置瑕疵补偿之系统,其包含:一个被耦合至该系统之反射通道,用以侦测从资料储存媒体之反射讯号,且回应性产生计数器讯号;及一个被耦合至该反射通道的微处理机,以利用计数器讯号来辨识该资料储存媒体上之写入位置瑕疵。2.如申请专利范围第1项之系统,其中该反射通道包含一个侦测器装置,该侦测器装置产生对应该计数器讯号的瑕疵讯号。3.如申请专利范围第1项之系统,其中该反射通道包含一个计数器装置,该计数器装置接收该瑕疵讯号,且加总瑕疵位元组以产生该计数器讯号。4.如申请专利范围第1项之系统,其中,被耦合至该反射通道之错误定限装置接收及分析该计数器讯号。5.如申请专利范围第4项之系统,其中,该错误定限装置为该微处理机。6.如申请专利范围第5项之系统,其中,该微处理机藉由分析该计数器讯号来决定写入位置瑕疵是否需要补偿,该计数器讯号与事先设定错误定限値做比较。7.如申请专利范围第1项之系统,其中,被耦合至该微处理机的记忆体装置储存一列瑕疵写入位置。8.如申请专利范围第7项之系统,其中,该记忆体装置为随机存取记忆体,该随机存取记忆体储存了写入过程中所创造的次级瑕疵列。9.如申请专利范围第7项之系统,其中,该记忆体装置为可程式唯读记忆体,该可程式唯读记忆体储存了该储存媒体制造期间所创造的主瑕疵列。10.如申请专利范围第1项之系统,其中,该微处理机将瑕疵写入资料再定位至该储存媒体上之不同写入位置。11.一种用于电脑储存媒体中写入位置瑕疵补偿之方法,其包含的步骤为:利用反射通道产生计数器讯号,该计数器讯号对应着写入位置瑕疵;及将写入资料再定位至该储存媒体上之不同写入位置,以回应该计数器讯号。12.如申请专利范围第11项之方法,其中,该反射通道侦测该储存媒体上之写入位置瑕疵,且产生该瑕疵讯号。13.如申请专利范围第12项之方法,其中,该反射通道包含一个侦测器装置,该侦测器装置产生瑕疵讯号。14.如申请专利范围第11项之方法,其中,该反射通道包含一个计数器装置,该计数器装置接收该瑕疵讯号,且加总瑕疵位元组,以产生该计数器讯号。15.如申请专利范围第11项之方法,其中,被耦合至该反射通道之错误定限装置接收及分析该计数器讯号。16.如申请专利范围第15项之方法,其中,该错误定限装置为该微处理机。17.如申请专利范围第16项之方法,其中,该微处理机藉由分析该计数器讯号来决定写入位置瑕疵是否需要补偿,该计数器讯号与事先设定错误定限値做比较。18.如申请专利范围第11项之方法,其中,被耦合至该微处理机的记忆体装置储存一列瑕疵写入位置。19.如申请专利范围第18项之方法,其中,该记忆体装置为随机存取记忆体,该随机存取记忆体储存了写入过程中所创造的次级瑕疵列。20.如申请专利范围第18项之方法,其中,该记忆体装置为可程式唯读记忆体,该可程式唯读记忆体储存了该储存媒体制造期间所创造的主瑕疵列。21.如申请专利范围第11项之方法,其中,该微处理机将瑕疵写入资料再定位至该储存媒体上之不同写入位置。22.一用于电脑储存媒体中写入位置瑕疵补偿之系统,其包含:一个用来侦测电脑储存媒体中写入位置瑕疵的工具;一个用来产生对应该写入位置瑕疵之瑕疵讯号的工具;一个用来该瑕疵讯号产生对应瑕疵位元组之计数器之讯器的工具;一个用来比较该计数器讯号与错误定限値以决定是否需要补偿的工具;一个用来将写入资料再定位至储存媒体上之不同位置的工具。图式简单说明:第一图A为根据本发明之磁光储存媒体正面的平面图;第一图B包含许多写入资料瑕疵之可能原因之第一图A之磁光储存媒体正面的剖面图;第二图为根据本发明之包含一个磁光驱动机之电脑系统的方块图;第三图为根据本发明之第二图之磁光驱动机的图示 ;第四图为根据本发明第三图之光学组件的立体图;第五图为第三图之驱动机模组内发现之资料通道及反射通道的示意图;第六图为根据本发明之第三图之驱动机模组的方块图;第七图为第三图之驱动模组之一组瑕疵讯号时间波形。第八图为根据本发明之用于电脑储存媒体中写入位置瑕疵补偿之较佳方法步骤流程图。 |
