| 主权项 |
1.一种IC之测试治具之植入省力构造,供组设于IC之测试治具上方使用,该IC之测试治具上设有呈阵列式排列的多数个测试座,各测试座系在一母座上设有一可上下位移之夹框,其特征系在于:于该IC之测试治具上方,设有一架台,于该架台上并枢设有一压架,压架系直接贴触于各夹框上,藉由该压架之一端被下压,使各该母座上的夹框同时向下位移,并与各该母座间形成插脚孔且开放,以供多排IC的插脚快速插置植入,回复该压架于原位时,将该多排IC插脚同时夹置定位、导通,方便、快速供多排IC的插拔测试者。2.如申请专利范围第1项所述之IC之测试治具之植入省力构造,其中该压架,系在两主框之间枢设有一压框,该压框并压触于该夹框上,藉枢设可自然调节恒保水平均匀的下压该夹框者。3.如申请专利范围第1项所述之IC之测试治具之植入省力构造,其中该压架,在远离其枢设的另一端进一步设有一扳动定位装置,使该另一端下压后可作定位者。图式简单说明:第一图系习知IC之测试治具之示意图。第二图系习知IC之测试治具之示意图。第三图系习知IC之测试治具下压夹框供插IC之示意图。第四图系本创作之立体示意图。第五图系本创作之第一动作示意图。第六图系本创作之第二动作示意图。 |
