发明名称 一种RAM检测方法及系统
摘要 本发明实施例提供一种RAM检测方法及系统,其中方法包括:预先对RAM空间进行分段处理,将RAM空间划分为一个存储重要数据的区域段及其他区域段,在操作系统启动时,对所述存储重要数据的区域段进行RAM检测;在当前操作系统的周期任务为预先设定的低优先级周期任务时,对所述其他区域段进行RAM检测。本发明实施例提供的RAM检测方法能够在不影响控制器的运行速度及执行时间的情况下,对RAM进行全面的检测,解除RAM所存在的安全隐患。
申请公布号 CN103455436B 申请公布日期 2016.09.14
申请号 CN201310436088.7 申请日期 2013.09.23
申请人 北京经纬恒润科技有限公司 发明人 刘博;张阳;王载琼
分类号 G06F12/02(2006.01)I;G11C29/04(2006.01)I 主分类号 G06F12/02(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 王宝筠
主权项 一种随机存储器RAM检测方法,其特征在于,预先对RAM空间进行分段处理,将RAM空间划分为一个存储重要数据的区域段及其他区域段,所述重要数据包括保证控制器的操作系统能够正常执行下去的数据,所述方法包括:在操作系统启动时,对所述存储重要数据的区域段进行RAM检测;在当前操作系统的周期任务为预先设定的低优先级周期任务时,对所述其他区域段进行RAM检测;其中,所述对所述其他区域段进行RAM检测包括:先对所述其他区域段中不存储数据的空白段进行检测,再对所述其他区域段中存储数据的非空白段进行检测。
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