发明名称 |
一种RAM检测方法及系统 |
摘要 |
本发明实施例提供一种RAM检测方法及系统,其中方法包括:预先对RAM空间进行分段处理,将RAM空间划分为一个存储重要数据的区域段及其他区域段,在操作系统启动时,对所述存储重要数据的区域段进行RAM检测;在当前操作系统的周期任务为预先设定的低优先级周期任务时,对所述其他区域段进行RAM检测。本发明实施例提供的RAM检测方法能够在不影响控制器的运行速度及执行时间的情况下,对RAM进行全面的检测,解除RAM所存在的安全隐患。 |
申请公布号 |
CN103455436B |
申请公布日期 |
2016.09.14 |
申请号 |
CN201310436088.7 |
申请日期 |
2013.09.23 |
申请人 |
北京经纬恒润科技有限公司 |
发明人 |
刘博;张阳;王载琼 |
分类号 |
G06F12/02(2006.01)I;G11C29/04(2006.01)I |
主分类号 |
G06F12/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
王宝筠 |
主权项 |
一种随机存储器RAM检测方法,其特征在于,预先对RAM空间进行分段处理,将RAM空间划分为一个存储重要数据的区域段及其他区域段,所述重要数据包括保证控制器的操作系统能够正常执行下去的数据,所述方法包括:在操作系统启动时,对所述存储重要数据的区域段进行RAM检测;在当前操作系统的周期任务为预先设定的低优先级周期任务时,对所述其他区域段进行RAM检测;其中,所述对所述其他区域段进行RAM检测包括:先对所述其他区域段中不存储数据的空白段进行检测,再对所述其他区域段中存储数据的非空白段进行检测。 |
地址 |
100101 北京市朝阳区安翔北里11号B座8层 |