| 主权项 |
1.一种电压比较装置,应用于一输入电压Vin与一参考电压Vref之比较之上,其系包含下列元件:一比较器电路,具有一第一电压输入端、一第二电压输入端以及一电压输出端,其中该输入电压Vin与该参考电压Vref系分别经该第一电压输入端与该第二电压输入端输入该比较器中,当该输入电压値Vin大于该参考电压値Vref时,该电压输出端所输出之输出电压Vout値为一第一准位値,而当该输入电压値Vin小于该参考电压値Vref时,该电压输出端所输出之输出电压Vout値则为一第二准位値;以及一回授控制电路,电连接于该电压输出端与该第一电压输入端之间,其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第二准位値时,将该输入电压値Vin向下调整一扰动容忍値,进而达成不受输入电压扰动干扰之电压比较装置。2.如申请专利范围第1项所述之电压比较装置,其中该比较器电路系以一运算放大器电路所完成。3.如申请专利范围第2项所述之电压比较装置,其中该第一电压输入端系并联有一电阻装置,其系用以将一输入电流转换成该输入电压Vin,而该回授控制电路电连接于该电压输出端与该电阻装置,其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第二准位値时,调整降低该电阻装置之总电阻値,进而将该输入电压値Vin向下调整一扰动容忍値。4.如申请专利范围第3项所述之电压比较装置,其中该电阻装置系由一第一电阻器与一第二电阻器串联而成,而该回授控制电路系为一受控开关,电连接于该电压输出端及并联至该第二电阻器,其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第二准位値时转为导通,将该第二电阻器短路,以降低该电阻装置之总电阻値。5.如申请专利范围第4项所述之电压比较装置,其中该受控开关包含:一反闸电路,电连接于该电压输出端,其系用以将该第二准位値转换成一导通电压値输出;以及一金氧半电晶体,其闸极电连接于该反闸电路而源/汲极并联至该第二电阻器,其系因应该导通电压値之控制而转为导通,进而将该第二电阻器短路,以降低该电阻装置之总电阻値。6.如申请专利范围第3项所述之电压比较装置,其中该电阻装置系由一第一电阻器与一第二电阻器并联而成,而该回授控制电路系为一受控开关,电连接于该电压输出端及将该第二电阻器串联至地(ground),其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第二准位値时转为导通,将该第二电阻器连通至地(ground),以降低该电阻装置之总电阻値。7.如申请专利范围第6项所述之电压比较装置,其中该受控开关包含:一反闸电路,电连接于该电压输出端,其系用以将该第二准位値转换成一导通电压値输出;以及一金氧半电晶体,其闸极电连接于该反闸电路而源/汲极将该第二电阻器串联至地(ground),其系因应该导通电压値之控制而转为导通,进而将该第二电阻器连通至地(ground),以降低该电阻装置之总电阻値。8.如申请专利范围第3项所述之电压比较装置,其中该输入电流系为一光电晶体所产生之射极电流。9.一种电压比较装置,应用于一输入电压Vin与一参考电压Vref之比较之上,其系包含下列元件;一比较器电路,具有一第一电压输入端、一第二电压输入端以及一电压输出端,其中该输入电压Vin与该参考电压Vref系分别经该第一电压输入端与该第二电压输入端输入该比较器中,当该输入电压値Vin大于该参考电压値Vref时,该电压输出端所输出之输出电压Vout値为一第一准位値,而当该输入电压値Vin小于该参考电压値Vref时,该电压输出端所输出之输出电压Vout値则为一第二准位値;以及一回授控制电路,电连接于该电压输出端与该第二电压输入端之间,其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第一准位値时,将该参考电压Vref向下调整一扰动容忍値,进而达成不受输入电压扰动干扰之电压比较装置。10.如申请专利范围第9项所述之电压比较装置,其中该比较器电路系以一运算放大器电路所完成。11.如申请专利范围第10项所述之电压比较装置,其中该第二电压输入端连接有一电阻装置,其系用以将一固定电压源分压形成该参考电压Vref,而该回授控制电路电连接于该电压输出端与该电阻装置,其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第一准位値时,调整该电阻装置之总电阻値而将该参考电压Vref向下调整一扰动容忍値。12.如申请专利范围第11项所述之电压比较装置,其中该电阻装置系由一第一电阻器与一第二电阻器串联而成,而该回授控制电路系为一受控开关,电连接于该电压输出端及并联至该第二电阻器,其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第一准位値时转为导通,将该第二电阻器短路,以降低该电阻装置之总电阻値。13.如申请专利范围第12项所述之电压比较装置,其中该受控开关系为一金氧半电晶体,其闸极电连接于该电压输出端而源/汲极并联至该第二电阻器,其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第一准位値时转为导通,进而将该第二电阻器短路,以降低该电阻装置之总电阻値。14.如申请专利范围第11项所述之电压比较装置,其中该电阻装置系由一第一电阻器与一第二电阻器并联而成,而该回授控制电路系为一受控开关,电连接于该电压输出端及将该第二电阻器串联至地(ground),其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第一准位値时转为导通,将该第二电阻器连通至地(ground),以降低该电阻装置之总电阻値。15.如申请专利范围第14项所述之电压比较装置,其中该受控开关系为一金氧半电晶体,其闸极电连接于该电压输出端而源/汲极将该第二电阻器串联至地(ground),其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第一准位値时转为导通,进而将该第二电阻器连通至地(ground),以降低该电阻装置之总电阻値。16.如申请专利范围第9项所述之电压比较装置,其中该输入电压Vin系为一输入电流流经一接地电阻所产生,而该输入电流系为一光电晶体所产生之射极电流。17.一种电压比较装置,应用于一输入电压Vin与一参考电压Vref之比较之上,其系包含下列元件:一比较器电路,具有一第一电压输入端、一第二电压输入端、一电压输出端以及一补偏电压输入端,其中该输入电压Vin、该参考电压Vref及补偏电压Voffset系分别经该第一电压输入端、该第二电压输入端以及该补偏电压输入端输入该比较器中,当该输入电压値Vin大于该参考电压値Vref与该补偏电压Voffset之和时,该电压输出端所输出之输出电压Vout値为一第一准位値,而当该输入电压値Vin小于该参考电压値Vref与该补偏电压Voffset之和时,该电压输出端所输出之输出电压Vout値则为一第二准位値;以及一回授控制电路,电连接于该电压输出端与该补偏电压输入端之间,其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第一准位値时,将该补偏电压Voffset向下调整一扰动容忍値,进而达成不受输入电压扰动干扰之电压比较装置。18.如申请专利范围第17项所述之电压比较装置,其中该比较器电路系以一运算放大器电路所完成。19.如申请专利范围第18项所述之电压比较装置,其中该补偏电压输入端连接有一电阻装置,其系用以将一固定电压源分压形成该补偏电压Voffset,而该回授控制电路电连接于该电压输出端与该电阻装置,其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第一准位値时,调整该电阻装置之总电阻値而将该补偏电压Voffset向下调整一扰动容忍値。20.如申请专利范围第19项所述之电压比较装置,其中该电阻装置系由一第一电阻器与一第二电阻器串联而成,而该回授控制电路系为一受控开关,电连接于该电压输出端及并联至该第二电阻器,其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第一准位値时转为导通,将该第二电阻器短路,以降低该电阻装置之总电阻値。21.如申请专利范围第20项所述之电压比较装置,其中该受控开关系为一金氧半电晶体,其闸极电连接于该电压输出端而源/汲极并联至该第二电阻器,其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第一准位値时转为导通,进而将该第二电阻器短路,以降低该电阻装置之总电阻値。22.如申请专利范围第19项所述之电压比较装置,其中该电阻装置系由一第一电阻器与一第二电阻器并联而成,而该回授控制电路系为一受控开关,电连接于该电压输出端及将该第二电阻器串联至地(ground),其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第一准位値时转为导通,将该第二电阻器连通至地(ground),以降低该电阻装置之总电阻値。23.如申请专利范围第22项所述之电压比较装置,其中该受控开关系为一金氧半电晶体,其闸极电连接于该电压输出端而源/汲极将该第二电阻器串联至地(ground),其系用以当该电压输出端所输出之输出电压Vout値为该第一准位値时转为导通,进而将该第二电阻器连通至地(ground),以降低该电阻装置之总电阻値。24.如申请专利范围第17项所述之电压比较装置,其中该输入电压Vin系为一输入电流流经一接地电阻所产生,而该输入电流系为一光电晶体所产生之射极电流。图式简单说明:第一图:其系习用滑鼠装置中用以侦测其位置移动并转换成数位控制信号之电路示意图。第二图(a):其系习用手段中类比输入电压信号Vin与固定参考电压Vref之波形示意图。第二图(b):数位输出信号Vout之波形示意图。第三图(a):其系类比输入电压信号Vin値接近该固定参考电压Vref値之波形放大示意图。第三图(b):其系因杂讯影响所造成转换出之数位输出信号Vout具有不正常方波数目之波形示意图。第四图(a)(b):其系本案为改善习用缺失所发展出来之第一及第二较佳实施例之电路示意图。第五图:其系本案第一及第二较佳实施例中类比输入电压信号Vin与固定参考电压Vref之波形示意图。第六图(a)(b):其系本案为改善习用缺失所发展出来之第三及第四较佳实施例之电路示意图。第七图:其系本案第二及第三较佳实施例中类比输入电压信号Vin与参考电压Vref之波形示意图。第八图(a)(b):其系本案为改善习用缺失所发展出来之第五及第六较佳实施例之电路示意图。 |
