发明名称 用于电光读取器的回射扫描模组
摘要 本发明揭示一小型化的光电、回射的扫描模组。此模组有一基座、第一电路板以及实体上与第一电路板正交安装之第二电路板。此基座支撑一光发射器以产生一扫描光束以及光学元件来导引与收集光能量。此发射光束从一摺镜上反射到一架设在驱动装置上的反射体做振荡。此振荡的反射体,接着,将光束方向更改到要读取的标记。因为反射元件的振荡,光束会扫描此标记。反射的光从振荡的反射体反射并在到达检测器前被导引至收集镜。包含在此模组中的检测器感测从光束所扫描之标记反射的光。光束与检测器的观察视界被同时扫描。揭示用来缩小扫描模组尺寸的振荡驱动装置及光学配置的不同具体实例。
申请公布号 TW498287 申请公布日期 2002.08.11
申请号 TW089105495 申请日期 2000.11.08
申请人 辛宝技术公司 发明人 豪渥德 沙帕;艾德华D 巴肯;保罗 迪维奇斯;鲍瑞斯 米利斯基;瑞 布理吉拉;维拉迪米尔 古瑞维克;马克 克里奇弗;雅君 李;约瑟夫 凯姿;文森 路希安诺
分类号 G06K7/10 主分类号 G06K7/10
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种用以将由光源产生之光束扫描在条码上之扫描元件,该扫描元件包含:a)一支座;b)一附接在该支座一端点上的折叠状型态的弯曲部份;c)一附接于该弯曲部份的第二端点并在该弯曲部份一边延伸的制动臂;d)一附接在该制动臂的反射元件;e)一附接至该制动臂的磁铁;以及f)一驱动器,用来施加力量在该磁铁并移动该反射性元件及该磁铁在至少一个圆周方向。2.如申请专利范围第1项之扫描元件,其中该驱动器包含有孔穿过中心的电磁线圈。3.如申请专利范围第2项之扫描元件,其中该线圈在该磁铁移动期间至少部份接受该磁铁通过线圈孔。4.如申请专利范围第1项之扫描元件,其中该磁铁及该反射元件位在该制动臂的不同的端点上。5.如申请专利范围第4项之扫描元件,其中该制动臂,该反射元件及该磁铁形成一平衡结构。6.如申请专利范围第1项之扫描元件,其中该反射元件为镜子。7.如申请专利范围第6项之扫描元件,其中该镜子为塑胶镜。8.如申请专利范围第1项之扫描元件,其中该制动臂为一塑胶制动臂。9.如申请专利范围第1项之扫描元件,其中该制动臂,该反射元件组成单一铸模塑胶元件。10.如申请专利范围第1项之扫描元件,其中该折叠型态的弯曲部份是用mylar做的。11.如申请专利范围第1项之扫描元件,其中该折叠型态的弯曲部份包含至少两个板片弹簧。12.如申请专利范围第1项之扫描元件,其中该光源为雷射二极体而该光束为雷射光束。13.一种用来读取条码符号之扫描模组,藉由以光束扫描符号,并藉由收集从符号反射回来的反射光,该扫描模组包含:a)一基座;b)一用来产生光束的光源;c)一扫描元件,用来转向产生的光束并且以振荡的移动用该转向的光束扫描符号,该扫描元件包含i)一附接至该基座的支座;ii)一附接至该支座一端点的折叠型态弯曲部份;iii)一附接至该折叠型态弯曲部份第二端点存该弯曲部份一边延伸的制动臂;iv)一附接至该制动臂的扫描镜;v)一附接至该制动臂的磁铁;以及vi)一驱动器,用来施加力量在该磁铁并移动该反射性元件及该磁铁在至少一个圆周方向;d)一用来收集自符号反射的反射光的收集镜;e)一检测器,用来检测试收集到的反射光并转换该检测到的反射光为电气信号;以及f)一用来处理该电气信号的处理电路。14.如申请专利范围第13项之扫描模组,还包含住在从该光源到该扫描元件的光束路径上的一折叠镜,用来折叠该光源产生的光束并转向此光束到该扫描镜上。15.如申请专利范围第14项之扫描模组,其中该折镜有一弯曲,用来修改该光束的横切面特性。16.如申请专利范围第13项之扫描模组,其中该驱动器包含有孔在其中心的电磁线圈。17.如申请专利范围第16项之扫描模组,其中该线圈在振荡移动该线圈期间至少部份接受该磁铁通过线圈孔。18.如申请专利范围第13项之扫描模组,其中该磁铁及该扫描镜位在该制动臂的不同端点上。19.如申请专利范围第18项之扫描模组,其中该制动臂,该扫描镜及该磁铁形成一平衡结构。20.如申请专利范围第13项之扫描模组,其中该扫描镜为一塑胶镜。21.如申请专利范围第14项之扫描模组,其中该收集镜包含一有孔穿过的收集镜,其中该折叠镜折叠由该光源产生的光束并转向光束透过该收集镜到该扫描镜上。22.如申请专利范围第13项之扫描模组,其中该制动臂为塑胶的制动臂。23.如申请专利范围第13项之扫描模组,其中该制动臂,该反射元件组成一个单一铸模的塑胶元件。24.如申请专利范围第13项之扫描模组,其中该折叠型态的弯曲部份是用mylar做的。25.如申请专利范围第13项之扫描模组,其中该折叠型态的弯曲部份包含至少两个板片弹簧。26.如申请专利范围第13项之扫描模组,其中该光源为雷射二极体而该光束为雷射光束。27.如申请专利范围第16项之扫描模组,还包含第一电路板来提供电气连接至该光源,该检测器及该线圈。28.如申请专利范围第13项之扫描模组,其中该处理电路包含一类比特定积体电路。29.如申请专利范围第13项之扫描模组,其中该处理电路包含一板上晶片的电路。30.如申请专利范围第13项之扫描模组,其中该处理电路包含可程式特色,用来选择性地修改该扫描模组的至少一个操作参数。31.如申请专利范围第30项之扫描模组,其中该操作参数储存在该处理电路中。32.如申请专利范围第13项之扫描模组,还包含扫描元件置中特色,用来调整该扫描元件相对于该座架的位置。33.如申请专利范围第13项之扫描模组,其中该座架包含至少两个对齐元件,用来将该扫描模组适当的定位在资料收集装置的壳中。34.如申请专利范围第33项之扫描模组,其中该至少两个对齐元件包含对齐突出物。35.如申请专利范围第33项之扫描模组,其中该至少两个对齐元件包含对齐孔。36.如申请专利范围第21项之扫描模组,其中该收集镜的宽度实质等于该扫描镜的最少投射宽度。37.如申请专利范围第13项之扫描模组,其中该雷射光束的传送/扫描以及反射光的收集是在不同平面上做的。38.一种用来读取条码符号之扫描模组,藉由以雷射光束扫描一符号并藉由收集从符号反射的反射光,该扫描模组包含:a)一金属基座;b)一收集自符号反射的反射光的收集镜,该收集镜有一孔通过其中;c)一用来产生雷射光束的雷射光源;d)一折叠镜,用来折叠该雷射光源产生的雷射光束并投射到折叠雷射光束通过收集镜中的孔;e)一扫描元件,用来接受以振荡移动通过该收集镜中的孔投射其上的雷射光束,该扫描模组包含i)附接至该金属基座的支撑结构;ii)附接至该支撑一端点上的折叠型态的弯曲部份;iii)附接至该弯曲部份第二端点并延伸在该弯曲部份的一边上的制动臂;iv)有一宽度的扫描镜并附接至制动臂第一端点来接受透过该收集镜中之孔透射的折叠雷射光束并将雷射光束导至符号上;v)附接到制动臂第二端点的磁铁;以及vi)一电磁线圈,用来施加力量在该磁铁并移动该反射性元件及该磁铁在至少一个圆周方向;f)一检测器,用来检测该收集到的反射光并转换该检测到的反射光为电气信号;g)第一电路板来连接该雷射光源,该检测器及该线圈;以及h)第二电路板包含处理该电气信号的处理电路。39.如申请专利范围第38项之扫描模组,其中该折叠镜有一弯曲,用来修改该雷射光束的横切面特性。40.如申请专利范围第39项之扫描模组,其中该折叠镜有一圆柱形弯曲。41.如申请专利范围第38项之扫描模组,其中该线圈至少部份接收该磁铁通过线圈孔。42.如申请专利范围第38项之扫描模组,其中该制动臂及该扫描镜组成一单一铸模塑胶片。43.如申请专利范围第38项之扫描模组,其中该制动臂,扫描镜及该磁铁形成一平衡结构。44.如申请专利范围第38项之扫描模组,其中该折叠型态弯曲部份是用mylar做的。45.如申请专利范围第38项之扫描模组,其中该折叠型态的弯曲部份包含至少两个板片弹簧。46.如申请专利范围第38项之扫描模组,其中该处理电路包含一特定应用积体电路。47.如申请专利范围第38项之扫描模组,其中该处理电路包含一板上晶片的电路。48.如申请专利范围第38项之扫描模组,其中该处理电路包含可程式特色,用来选择性的修改该扫描模组的至少一个操作参数。49.如申请专利范围第48项之扫描模组,其中该操作参数储存在该处理电路中。50.如申请专利范围第48项之扫描模组,其中该处理电路还包含解码器,用来解码编码在扫描条码中的资讯。51.如申请专利范围第38项之扫描模组,还包含扫描元件置中特色,用来调整该扫描元件相对该基座的位置。52.如申请专利范围第38项之扫描模组,其中该收集镜的宽度实质等于该扫描镜的最少投射宽度。53.如申请专利范围第38项之扫描模组,其中该扫描模组的体积小于0.15立方英寸。54.如申请专利范围第53项之扫描模组,长度大约0.8英寸,宽度大约0.5英寸而高度大约0.3英寸。55.如申请专利范围第38项之扫描模组,其中该座架包含至少两个对齐元件,用来将该扫描模组适当的定位在资料收集装置的壳中。56.如申请专利范围第55项之扫描模组,其中该至少两个对齐元件包含对齐突出物。57.如申请专利范围第55项之扫描模组,其中该至少两个对齐元件包含对齐孔。58.如申请专利范围第38项之扫描模组,其中该线圈包含至少两个卷绕,第一个卷绕为驱动卷绕而第二个卷绕为回授卷绕。59.如申请专利范围第38项之扫描模组,其中该雷射光束的传送/扫描以及反射光的收集是在不同平面上做的。图式简单说明:图1a,为先前技艺手持雷射扫描器与资料收集终端器的概要图;图1b为根据本发明的手持枪型扫描器的概要图;图2为根据本发明之一扫描模组的具体实例的透视图,为明确起见分离了某些零件;图3为图2模组的上视平面图,再次的移除某些零件来显示模组的内部;图4为图2模组的左方立视图;图5为图2模组的右方立视图;图6为图2模组之驱动元件的立视图;图7a为根据本发明之扫描模组的另一个具体实例的透视图;图7b为根据本发明之扫描模组的另一个具体实例的平面图;图8显示根据本发明另一观点的扫描模组;图9显示根据本发明再另一具体实例的扫描模组;图10显示在图9中显示的扫描模组的替代具体实例;图11显示标称的条码符号及读取光束光点;图12显示一雷射聚焦光图及光束窄细;图13a显示改善的光图外形;图13b显示图13a的替代光图外形;图13c显示图13a的替代光图外形;图14显示根据6-公撮厚度码的光圈外形的标称MTF曲线;图15显示一7.5公撮厚度条码的光圈外形的MTF曲线;图16显示20公撮厚度条码的MTF曲线;图17显示55公撮厚度条码的MTF曲线;图18显示在扫描模组与解码模组间的概要互相连接;图19显示上面的传统两个光电二集体检测器系统;图20从一边显示图19的系统;图21从前面显示图19的系统;图22显示根据本发明上面的改良检测器系统;图23从一边显示图22的系统;图24从前面显示图22的系统;图25显示传统扫描模组的部份;图26显示根据本发明另一个观点的解码器模组;以及图27显示根据本发明另一观点的一个"背对背"双雷射配置。图28为根据本发明图2扫描模组的替代具体实例的透视图,为明确起见分离了某些零件。图29为图28模组的上方平面图,再次的移除某些零件来显示模组内部;图30a为图29模组驱动元件的上方平面图;图30b为图29模组的驱动元件的立视图;图31为图29模组基座的底视图,说明架设与对齐孔。
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