发明名称 数位资料之错误侦错揪错方法
摘要 一种数位资料之错误侦错揪错方法,包括:将一资料位元组进行位元调置编码。判断此资料位元组是否满足调变编码的规格。当不满足调置编码规格时,将此资料位元组增加一错误位元。之后,再将包含此错误位元的资料位元组进行错误揪错程序。
申请公布号 TW509900 申请公布日期 2002.11.11
申请号 TW089103470 申请日期 2000.02.29
申请人 威盛电子股份有限公司 发明人 张文正;胡培杰
分类号 G11B20/00 主分类号 G11B20/00
代理机构 代理人 詹铭文 台北巿罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1.一种数位资料之错误侦错揪错方法,包括:将一资料位元组进行一位元调置编码;判断该资料位元组是否满足调变编码的规格;当不满足该调置编码规格时,将该资料位元组增加一错误位元;以及将包含该错误位元的该资料位元组进行一错误揪错程序。2.如申请专利范围第1项所述之数位资料之错误侦错揪错方法,其中该位元调置编码系八位元至十四位元的调变程序。3.如申请专利范围第1项所述之数位资料之错误侦错揪错方法,其中该位元调置编码系八位元至十六位元的调变程序。4.如申请专利范围第1项所述之数位资料之错误侦错揪错方法,其中判断该资料位元组是否满足调变编码的规格系根据一内建的对照表。5.如申请专利范围第4项所述之数位资料之错误侦错揪错方法,其中该内建的对照表系储存于一唯读记忆体(readonly memory, ROM)中。6.一种数位资料之错误侦错揪错方法,包括:将一资料位元组进行一位元调置编码;判断该资料位元组是否满足调变编码的规格;当不满足该调置编码规格时,将该资料位元组增加一错误位元;计算对应该资料位元组之复数个徵状値;判断该些徵状値是否均为零;当该些徵状値中至少有一不为零时,便判断是否有有该错误位元或该错误位元是否超过四;当具有该错误位元且该错误位元之计数不超过四,便执行一第一错误揪错程序,以计算一错误値;当该错误位元之计数超过四或不具有该错误位元,便执行一第二错误揪错程序,以计算一错误位置与一错误値。7.如申请专利范围第6项所述之数位资料之错误侦错揪错方法,其中该第一错误揪错程序,更包括:计算该错误値之一除数;判断该错误値之该除数是否为0;当该错误値之该除数为0时,对该错误値标示一抹除位元;当该错误値之该除数不为0时,计算该错误値之一被除数,并计算该错误値与累计一错误値计算次数;当该错误値计算次数等于一第一预设値时,便进行错误修正;以及当该错误値计算次数不超过一第一预设値时,便再计算该错误値之下一错误値。8.如申请专利范围第7项所述之数位资料之错误侦错揪错方法,其中该第一预设値为4。9.如申请专利范围第6项所述之数位资料之错误侦错揪错方法,其中该些徵状値更包括一第一徵状値、一第二徵状値、一第三徵状値、一第四徵状値。10.如申请专利范围第9项所述之数位资料之错误侦错揪错方法,其中该第二错误揪错程序,更包括:判断该第二徵状値的平方是否等于该第一与该第三徵状値之乘积;当该第二徵状値的平方等于该第一与该第三徵状値之乘积时,判断是否能找该错误値之一错误位置;当该错误値之该错误位置被找出时,便对该错误値进行错误修正;当该错误値之该错误位置未被找出时,便搜寻一资料串,再进行该错误値之该错误位置的搜寻;当该第二徵状値的平方不等于该第一与该第三徵状値之乘积时,便搜寻该资料串,并且累计该错误位置之计数値;当该错误位置之计数値等于一第二预设値时,便计算该错误値,并对该错误値进行错误修正;以及当该该错误位置之计数値不等于该第二预设値时,便对该错误値标示一抹除位元。11.如申请专利范围第10项所述之数位资料之错误侦错揪错方法,其中该第二预设値为2。12.如申请专利范围第6项所述之数位资料之错误侦错揪错方法,其中该位元调置编码系八位元至十四位元的调变程序。13.如申请专利范围第6项所述之数位资料之错误侦错揪错方法,其中该位元调置编码系八位元至十六位元的调变程序。14.如申请专利范围第6项所述之数位资料之错误侦错揪错方法,其中判断该资料位元组是否满足调变编码的规格系根据一内建的对照表。15.如申请专利范围第14项所述之数位资料之错误侦错揪错方法,其中该内建的对照表系储存于一唯读记忆体(read only memory, ROM)中。图式简单说明:第1图绘示一种八至十四位元调变的集合变换示意图;第2图绘示本发明之数位资料之错误侦错揪错方法所使用的揪错方块示意图;以及第3图绘示本发明之数位资料之错误侦错揪错方法的揪错流程示意图。
地址 台北县新店巿中正路五三三号八楼