发明名称 测试机之测试弹片改良结构
摘要 一种测试机之测试弹片改良结构,在引脚插入型元件或表面黏着型元件之测试元件测试机中,设有一测试承置座,测试承置座具有同时供数颗测试元件放置之长度,在测试承置座两侧机体上各接置有一测试弹片,该测试弹片之下端接于机体上,测试弹片之上端朝向测试承置座,并与各测试元件相接触,且配合测试元件之接脚在测试弹片测试端相对应设有数间隔之切缝,当测试弹片与测试元件之接脚接触时,让测试端由切缝分割之各部份能产生独立性之位移,以克服同时间测试多颗测试元件时各接脚与测试弹片间因接触不良所造成之误判问题。
申请公布号 TW516626 申请公布日期 2003.01.01
申请号 TW090209385 申请日期 2001.06.06
申请人 台湾光宝电子股份有限公司 发明人 游礼千;郭政忠;叶村福
分类号 G01R1/02 主分类号 G01R1/02
代理机构 代理人 樊贞松 台北市大安区敦化南路二段七十一号十八楼;王云平 台北市大安区敦化南路二段七十一号十八楼
主权项 1.一种测试机之测试弹片改良结构,包括:一测试弹片,其具有一测试端,且在测试端设有数间隔之切缝,且切缝之间隔为配合之测试元件之宽度;当测试弹片接置于测试机之测试承置座旁,并且使测试端朝放置有一个以上之测试元件之测试承置座移动,让测试端与各测试元件之接脚相接触时,测试端由切缝分割之各部份能对各测试元件之接脚产生独立之位移。2.如申请专利范围第1项所述之测试机之测试弹片改良结构,其中测试元件为引脚插入型元件或表面黏着型元件。3.如申请专利范围第1项所述之测试机之测试弹片改良结构,其中该测试弹片具有一条状部,以条状部固接在测试机,由条状部近两侧端处分别形成一斜条部,斜条部向上且呈倾斜设置,在斜条部中形成反折状,且斜条部接有一板部,板部中亦形成反折状。4.如申请专利范围第1项所述之测试机之测试弹片改良结构,其中该测试弹片为形成片状。图式简单说明:第一图为习知之立体实施图。第二图为本创作引脚插入型测试弹片之立体图。第三图为本创作第二图实施立体图。第四图为本创作第二图之实施前视动作图。第五图为本创作与引脚插入型元件未接触时之上视图。第六图为本创作与引脚插入型元件接触时之上视图。第七图为本创作表面黏着型测试弹片之立体图。第八图为本创作第七图实施立体图。第九图为本创作第七图之实施前视动作图。第十图为本创作与表面黏着型元件未接触时之上视图。第十一图为本创作与表面黏着型元件接触时之上视图。
地址 台北县中和市建一路九十号