| 主权项 |
1.一种开/短路检测装置,适用于一电路板,该电路板上系包含一接脚脚座,且该接脚脚座系与一晶片电连接及复数个终端电阻连接,该电路系包含:一供电电源,其一端连接于该晶片,另一端电连接于一接地线;一侦测器,电连接于该接脚脚座之第一接脚,用以侦测该接脚脚座之第一接脚,并获得一第一电流値;一转换电路,电连接于该侦测器,用以将该第一电流値转换成一第一电压値;一控制电路,电连接于该转换电路,用以根据该第一电压値产生一第一控制信号;以及一警示器,电连接于该控制电路,其系受该第一控制信号所驱动,用以因应该第一控制信号之控制输出一警示讯号,以达到判断该接脚脚座之第一接脚与该晶片之第一接脚间电路是否为开/短路之目的。2.如申请专利范围第1项所述之开/短路检测装置,其中该电路板系为一主机板。3.如申请专利范围第1项所述之开/短路检测装置,其中该接脚脚座系为一中央处理器之接脚脚座。4.如申请专利范围第3项所述之开/短路检测装置,其中该复数个终端系用以提供该中央处理器之讯号接脚一个逻辑准位。5.如申请专利范围第1项所述之开/短路检测装置,其中该接脚脚座系为一记忆体之接脚脚座。6.如申请专利范围第5项所述之开/短路检测装置,其中该复数个终端电阻系用以提供该记忆体之讯号接脚一个逻辑准位。7.如申请专利范围第1项所述之开/短路检测装置,其中该供电电源系为一乾电池,其正极连接于该晶片之接地线,负极电连接于该转换电路及该控制电路之共同接地线。8.如申请专利范围第7项所述之开/短路检测装置,其中该晶片之接地线系为该电路板之接地线。9.如申请专利范围第1项所述之开/短路检测装置,其中该侦测器系为一金属探棒。10.如申请专利范围第1项所述之开/短路检测装置,其中该转换电路系为一电流-电压转换电路。11.如申请专利范围第10项所述之开/短路检测装置,其中该电流-电压转换电路系包含一可变电阻,系于对该接脚脚座之第一接脚检测之前,进行一校正动作。12.如申请专利范围第1项所述之开/短路检测装置,其中该警示器系为一液晶显示器(LCD)。13.如申请专利范围第1项所述之开/短路检测装置,其中该警示器系为一七段显示器。14.如申请专利范围第1项所述之开/短路检测装置,其中该警示器系为一蜂鸣器。15.如申请专利范围第1项所述之开/短路检测装置,其中该警示器系为一发光二极体(LED)。16.如申请专利范围第1项所述之开/短路检测装置,其中该接脚脚座系与该晶片之接脚连接,至于该晶片之接脚两端各具一二极体,用以防止瞬间过大之静电电压流经该晶片而造成损坏。17.一种开/短路检测装置,适用于一电路板,该电路板上系包含一接脚脚座,且该接脚脚座系与一晶片电连接及复数个终端电阻连接,该电路系包含:一供电电源,其一端连接于该晶片,另一端电连接于一接地线;一侦测器,电连接于该接脚脚座之第一接脚,用以侦测该接脚脚座之第一接脚,并获得一第一电流値;一转换电路,电连接于该侦测器,用以将该第一电流値转换成一第一电压値;一输出电路,电连接于该转换电路,用以根据该第一电压値进而产生一输出讯号,以达到判断该接脚脚座之第一接脚与该晶片之第一接脚间电路是否为开/短路之目的。18.如申请专利范围第17项所述之开/短路检测装置,其中该接脚脚座系为一中央处理器之接脚脚座。19.如申请专利范围第17项所述之开/短路检测装置,其中该接脚脚座系为一记忆体之接脚脚座。20.如申请专利范围第17项所述之开/短路检测装置,其中该供电电源系为一乾电池,其正极连接于该晶片之接地线,负极电连接于该转换电路及该控制电路之共同接地线。21.如申请专利范围第20项所述之开/短路检测装置,其中该晶片之接地线系为该电路板之接地线。22.如申请专利范围第17项所述之开/短路检测装置,其中该侦测器系为一金属探棒。23.如申请专利范围第17项所述之开/短路检测装置,其中该转换电路系为一电流-电压转换电路。24.如申请专利范围第17项所述之开/短路检测装置,其中该输出电路系包含:一控制电路,电连接于该转换电路,用以根据该第一电压値产生一第一控制信号;以及一警示器,电连接于该控制电路,其系受该第一控制信号所驱动,用以因应该第一控制信号之控制输出一警示讯号,以达到判断该接脚脚座之第一接脚与该晶片组之第一接脚间电路是否为开/短路之目的。25.如申请专利范围第24项所述之开/短路检测装置,其中该警示器系为一液晶显示器(LCD)。26.如申请专利范围第24项所述之开/短路检测装置,其中该警示器系为一七段显示器。27.如申请专利范围第24项所述之开/短路检测装置,其中该警示器系为一蜂鸣器。28.如申请专利范围第24项所述之开/短路检测装置,其中该警示器系为一发光二极体(LED)。29.如申请专利范围第17项所述之开/短路检测装置,其中该接脚脚座系与该晶片之接脚连接,至于该晶片之接脚两端各具一二极体,用以防止瞬间过大之静电电压流经该晶片而造成损坏。30.一种开/短路检测方法,适用于一电路板,该电路板上系包含一接脚脚座,且该接脚脚座系与一晶片电连接及复数个终端电阻连接,其步骤系为:提供一供电电源电连接于该晶片及一接地线;侦测该接脚脚座之第一接脚,并获得一第一电流値;将该第一电流値转换成一第一电压値;根据该第一电压値产生一第一控制信号;以及因应该第一控制信号之控制输出一警示讯号,以达到判断该接脚脚座之第一接脚与该晶片之第一接脚间电路是否为开/短路之目的。31.如申请专利范围第30项所述之开/短路检测方法,其中侦测该接脚脚座之第一接脚之前尚包含下列步骤:调整一可变电阻以进行一校正动作;32.如申请专利范围第30项所述之开/短路检测方法,其中该电路板系为一主机板。33.如申请专利范围第30项所述之开/短路检测方法,其中该接脚脚座系为一中央处理器之接脚脚座,且该接脚脚座系与复数个终端电阻连接。34.如申请专利范围第30项所述之开/短路检测方法,其中该接脚脚座系为一记忆体之接脚脚座,且该接脚脚座系与复数个终端电阻连接。35.如申请专利范围第30项所述之开/短路检测方法,其中该供电电源系为一乾电池。36.如申请专利范围第30项所述之开/短路检测方法,其中该第一电流値系藉由一侦测器与该接脚脚座之第一接脚接触所获得。37.如申请专利范围第30项所述之开/短路检测方法,其中该第一电压値系藉由一转换电路根据该第一电流値转换所得。38.如申请专利范围第30项所述之开/短路检测方法,其中该第一控制信号系由一控制电路所产生。39.如申请专利范围第30项所述之开/短路检测方法,其中该警示讯号系由一警示器所产生。40.一种开/短路检测方法,适用于一主机板,该主机板上系包含一接脚脚座,且该接脚脚座系与一晶片电连接及复数个终端电阻连接,其步骤系为:提供一供电电源电连接于该晶片及一接地线;侦测该接脚脚座之第一接脚,并获得一第一电流値;将该第一电流値转换成一第一电压値;根据该第一电压値进而产生一输出讯号,以达到判断该接脚脚座之第一接脚与该晶片之第一接脚间电路是否为开/短路之目的。图式简单说明:第一图(a)(b)(c):其系习知技术之结构示意图。第二图(a):其系本案第一较佳实施例开/短路检测装置之电路结构示意图。第二图(b):其系本案第二较佳实施例开/短路检测装置之电路结构示意图。第三图:其系本案开/短路检测装置之电路图。第四图:其系本案开/短路检测方法之步骤流程图。 |
