发明名称 快闪记忆体单元及每单元多位元之达成方法
摘要 利用均匀的电位于隧道氧化物之上而提供一种快闪记忆体单元之程式规划方法,紧密之Vt(临限电压)分布及程式规划/抹除循环上之极稳定的Vt偏移使一多准位单元能具有每单元超过2位元。
申请公布号 TW520493 申请公布日期 2003.02.11
申请号 TW090111638 申请日期 2001.05.15
申请人 印芬龙科技股份有限公司 发明人 丹尼修;乔治天普;克里斯多福路德威格
分类号 G11C11/00 主分类号 G11C11/00
代理机构 代理人 何金涂 台北市大安区敦化南路二段七十七号八楼;李明宜 台北市大安区敦化南路二段七十七号八楼
主权项 1.一种快闪记忆体单元,包含:复数个多准位单元,各该单元含一浮动闸极,一通道及隧道氧化物,其中各该单元能根据一利用实质地存在于该隧道氧化物与该浮动闸极间之实质均匀之电位的方法予以程式规划。2.如申请专利范围第1项之快闪记忆体单元,其中各该多准位单元为单电晶体记忆体单元。3.如申请专利范围第2项之快闪记忆体单元,其中各该多准位单元为双电晶体记忆体单元。4.如申请专利范围第1项之快闪记忆体单元,其中各该多准位单元能储存2n个状态,其中n系大于或等于2之整数。图式简单说明:第1图描绘根据本发明快闪记忆体单元之部分示意/部分横剖面视图;第2图描绘渐增之临限电压Vt相对渐增之程式规划/抹除循环数目(#循环)之图示/图形;第3图描绘用于单一电晶体(1T)多准位单元之渐增的临限电压Vt相对渐增之程式规划/抹除循环数目之图示/图形;以及第4图系方块图,显示连接于n个(其中n为正整数)感测放大器50以用于确定各相结合状态之二进位准位(逻辑0或逻辑1)之记忆体单元48。
地址 德国