| 主权项 |
1.一种可调式测试平台,构造上包含有:一底座,内部容置相关之电子配线,底座上方于适当位置具有穿槽,使测试用探针之配线由此引出,底座前侧具有数设定控制钮,底座之一侧则设有数插座;一测试架,底部延伸突出有下框,握柄以驱动轴穿设于枢设于测试架中,驱动轴适当处被测试架中之二对应支架所架撑,并设置一肘杆连动构造,该肘杆连动构造之动力输出端与上框连结,上框两侧底部具孔柱以导套于测试架中所设之二对应滑柱中,滑柱于上框下方之柱体上设有弹性件,于上框上方则设有软性卡抵块,使上框常态下抵触卡抵块;以上述构件之组合,俾当使用时能于上框、下框上分别装设检测装置如探针及试件(如电路板),藉由握柄下压使肘杆连动构造带动上框下移一适当固定之距离,以方便探针对试件作一检测,使检测之动作标准化且能增进产品检测品管之效益,为其特征者。2.如申请专利范围第1项所述之可调式测试平台,在其中,肘杆连动构造系于二支架中暨于驱动轴上设有活动状之原动件,原动件前端枢接一ㄈ形连杆,连杆一端与一摇臂相枢接,摇臂端枢设于支架中,另端与一调整块枢接,调整块为动力输出端而与上框连结,俾以握柄之下压藉由肘杆连动构造之连动使调整块下移者。3.如申请专利范围第2项所述之可调式测试平台,在其中,调整块系以二螺件而锁固于上框之突块中,另于测试架相对应于该二螺件设置处开有穿孔,以便可供起子伸入测试架中去调整调整块之位置,达调整上框向下位移之距离者。图式简单说明:第一图系本创作握柄未下压时之立体外观示意图。第二图系本创作握柄下压时之立体外观示意图。第三图系本创作之立体分解示意图。第四图系本创作之组合剖视示意图。第五图系本创作使用时握柄下压之实施例示意图。第六图系第五图之剖视构造示意图。第七图系本创作之调整块能作位移调整之剖视构造示意图(图中显示握柄尚未下压)。第八图系第七图构造于握柄下压时之剖视构造示意图。 |
