发明名称 氮化镓系化合物半导体等之乾蚀刻方法
摘要 提供一种氮化镓系化合物半导体之乾蚀刻方法,在10^-3Pa级之较低真空度(高压)下仍能获得平滑蚀刻面,且连蓝宝石基板或氧化铝基板般之铝氧化物也能蚀刻。藉由反应气体所产生之电浆26来蚀刻氮化镓系化合物层22~24、蓝宝石基板21或氧化铝基板,该反应气体含有氯气与化学式CxHyClz(x、y、z为正整数)所代表的化合物(氯仿、二氯甲烷)气体。
申请公布号 TW200303051 申请公布日期 2003.08.16
申请号 TW092101544 申请日期 2003.01.24
申请人 莎姆克国际研究所股份有限公司 发明人 平本 道广;古户 信介;仲上 慎二;扇谷 浩通
分类号 H01L21/3065 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人 林镒珠
主权项
地址 日本