发明名称 用于使N - 通道与P - 通道电晶体个别最佳化之差别间隔片之形成方法A METHOD OFFORMING DIFFERENTIAL SPACERS FOR INDIA METHOD OFFORMING DIFFERENTIAL SPACERS FOR INDIVIDUAL OPIMIZATION OF N- CHANNEL AND P-CHANNEL TRANSIS
摘要 一种形成半导体之方法,该半导体具有n-通道电晶体(12)和p-通道电晶体(14)且具有对于各不同型式电晶体之最佳闸极至汲极重叠电容,该方法对于个别电晶体(12、14)于闸极(16)上使用差别间隔片。第一补偿间隔片(18)形成于闸极(16)上并施行n-通道扩展植入以建立n-通道电晶体(12)用之源极/汲极扩展区(20),该n-通道电晶体(12)与该闸极(16)间隔开最佳距离。第二补偿间隔片(22)形成于第一补偿间隔片(18)上,并形成p-通道源极/汲极扩展植入以建立p-通道电晶体(14)用之源极/汲极扩展区(26)。与于p-通道电晶体(14)上之闸极(16)间隔开之源极/汲极扩展区植入(26)所增加的间隔片导致了p-型掺杂物较之于n-型掺杂物具有更快速地扩散。
申请公布号 TW200303069 申请公布日期 2003.08.16
申请号 TW091136063 申请日期 2002.12.13
申请人 高级微装置公司 发明人 朱东
分类号 H01L21/76 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 美国