发明名称 量测用光学装置
摘要 〔课题〕提供一种量测用光学装置,系被量测物之配光特性非对称之情况,也尽量抑制自复数射出面射出之光量之不匀,令依照来自射出面之感光量所量测之量测值之精度提高。〔解决手段〕一种量测用光学装置,包括具有将射入入射面A之来自被量测物之光分岐后射出之复数射出面之束光纤22,在构造上将入射面A划分成复数入射区域A11~A32,自各自之射出面射出射入不相邻之彼此相异之复数入射区域A11~A32。伍、(一)、本案代表图为:第4图。(二)、本案代表图之元件代表符号简单说明:束光纤~22;入射区域~A11、A12、A21、A22、A31、A32;入射面~A。
申请公布号 TW580569 申请公布日期 2004.03.21
申请号 TW091135055 申请日期 2002.12.03
申请人 美能达股份有限公司 发明人 饭尾浩明
分类号 G01J3/00 主分类号 G01J3/00
代理机构 代理人 洪澄文 台北市大安区信义路四段二七九号三楼
主权项 1.一种量测用光学装置,包括:光分岐装置,具有将射入入射面之来自被量测物之光分岐后射出之复数射出面,其特征在于:在构造上将该入射面划分成复数入射区域,自各自之该射出面射出射入不相邻之彼此相异之复数入射区域。2.如申请专利范围第1项之量测用光学装置,其中,该量测用光学装置包括将来自被量测物之光聚光之聚光装置,将该光分岐装置配置成该入射面位于距离该聚光装置之像侧主点和其焦距大致相等之距离之位置。3.如申请专利范围第1项之量测用光学装置,其中,该量测用光学装置包括:第一聚光装置,将来自被量测物之光聚光;光圈阑,配置于该第一聚光装置之后方;以及第二聚光装置,将通过了该光圈阑之光聚光;该光分岐装置配置于相对于该第二聚光装置该入射面和该光圈阑变成共轭之关系之位置。4.如申请专利范围第1.2或3项之量测用光学装置,其中,各自和各自之该射出面对应之复数入射区域位于彼此相对于在该入射面之中心点对称之位置。5.如申请专利范围第1.2或3项之量测用光学装置,其中,各自和各自之该射出面对应之复数入射区域在该入射面位于随机之位置。6.一种量测用光学装置,其特征在于包括:光分岐装置,在构造上具有将射入入射面之来自被量测物之光分歧后射出之复数射出面,将该入射面划分成复数入射区域,自各自之该射出面射出射入不相邻之彼此相异之复数入射区域;感光装置,和该光分岐装置之各自之射出面相向的配置,将射入该入射面之光分解成色成分后转换为电气信号;以及计算装置,依照自该感光装置输出之电气信号计算三刺激値。图式简单说明:图1系表示本发明之实施例之三刺激値型光电色度计之外观之立体图。图2系表示三刺激値型光电色度计之功能性构造之方块图。图3系表示量测头之光学系之构造图。图4系表示在束光纤之入射面所划分之入射区域之图。图5(A)~5(B)系表示所划分之入射区域之别例之图。图6系表示自被量测物出来之光至入射面之路径图。图7系表示被量测物之配光特性为非对称性之情况例之图。图8系表示色度计之量测动作之流程图。图9系表示量测头之别的实施例之光学系之构造图。图10系表示在图9之光学系自被量测物出来之光至入射面A之路径图。图11系表示以往在入射面所划分之入射区域之图。
地址 日本