发明名称 使用金属氧化物半导体相位选择闸于相变记忆体之技术
摘要 一组NMOS场效应电晶体(22)可以被采用于驱动一组相变记忆体(10)之记忆胞(16)。因此,泄漏电流可以大幅度地被减低。
申请公布号 TW200410249 申请公布日期 2004.06.16
申请号 TW092112427 申请日期 2003.05.07
申请人 欧凡尼克斯股份有限公司 发明人 曼勒吉尔;泰勒洛瑞伊
分类号 G11C11/34 主分类号 G11C11/34
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 美国