发明名称 可避免寄生漏电流之沟槽电容器制程
摘要 本发明系关于一种可避免寄生漏电流之沟槽电容器制程,适用于阻绝一沟槽电容器外之寄生电晶体的形成,包括下列步骤:形成一掺杂层及一上盖层覆盖于沟槽之部份侧壁上;以及对此掺杂层进行一热回火程序以形成一掺杂区,其中此掺杂区系邻近于沟槽侧壁外之半导体基底内,以阻绝由位于沟槽侧壁外之寄生电晶体所产生之寄生漏电流。
申请公布号 TW200412647 申请公布日期 2004.07.16
申请号 TW092129113 申请日期 2003.10.21
申请人 茂德科技股份有限公司 发明人 陈世芳
分类号 H01L21/76 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路十九号三楼