具有测试输出电路之测试电路的半导体装置

摘要

一种包括复数输出电路之一半导体装置之测试方法包括下列步骤：导通一受测输出电路之p通道与n通道MIS电晶体，以及分别导通与关闭当成一参考输出电路之另一输出电路之p通道与n通道MIS电晶体之一与另一；测量该受测输出电路之该输出端与该参考输出电路之该输出端间之一电位差以及流经该受测输出电路之一贯穿电流；以及计算该受测输出电路之该p通道或n通道电晶体之导通电阻值。