发明名称 离子束分布检测装置及使用其之离子束配向处理装置
摘要 本发明提供一种装置关于电性测量照射到任意离子束处理位置的离子束照射量,以此测量结果为基础,检测此离子束发散度的离子束分布检测装置及使用其之离子束配向处理装置。一种离子束分布检测装置,其电性检测在照射到所希望被处理面的离子束带电粒子分布,具备导电框4:设有开口部41;法拉第杯群2:配置法拉第杯201–215,其捕获通过开口部41的前述离子束;及电流计5:分别测量在法拉第杯201~215产生的电流。
申请公布号 TW200413737 申请公布日期 2004.08.01
申请号 TW092135494 申请日期 2003.12.16
申请人 奇美电子股份有限公司 发明人 齐藤之人;中川芳树;佐藤浩之
分类号 G01R31/00 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 台南县新市乡台南科学工业园区奇业路一号