测试结构与具有此测试结构的电路板

摘要

一种测试结构，适于配置于一电路板上，用以检测压合于此测试结构上之一异方性导电薄膜的压合情况，此测试结构系由一衬垫与复数个引脚所构成，其中衬垫系配置于电路板之一侧边上，并且引脚系配置于衬垫相对应两侧边之电路板上。