APPARATUS STRUCTURE FOR ACCURACY IMPROVEMENT OF SURVEY

摘要

본 발명은 측량의 정밀도를 높이기 위한 장치구조에 관한 것으로써, 더욱 상세하게는 다양한 위치에서 지적측량을 정밀하게 수행할 수 있도록 하는 한편, 제3수용체로부터 제2이동체의 이동에 따라 중부굴곡폴대로부터 상부굴곡폴대를 지지하여 제3수용체가 하방향으로 처지는 현상을 방지하는 동시에 파손을 방지하는 한편, 측량의 정밀도가 높아질 수 있도록 한 측량의 정밀도를 높이기 위한 장치구조에 관한 것이다.