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发明名称 Socket for testing a semiconductor device
摘要
申请公布号 KR100476590(B1) 申请公布日期 2005.03.18
申请号 KR20020038953 申请日期 2002.07.05
申请人 发明人
分类号 H01R33/76;(IPC1-7):H01R33/76 主分类号 H01R33/76
代理机构 代理人
主权项
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