矽智财元件之特性测试及搜寻路径方法与电脑可读取记录媒体

摘要

本发明提出一种矽智财(IP)元件之特性测试方法，包括下列步骤。首先提供矽智财元件。依照矽智财元件中所有路径(path)自动产生多个测试样本。使用并逐一输入各测试样本至矽智财元件以进行模拟，以输出对应之多个模拟结果。最后依据各模拟结果产生矽智财元件特性资料库。