发明名称 | 覆晶封装结构及其制作方法 | ||
摘要 | 一种覆晶封装结构,包括制作于封装基板表面之阻焊层与预焊料层,以及制作于覆晶表面,由有机保护层所覆盖之无铅导电凸块。其中,阻焊层系位于封装基板之上表面,并具有开口以定义覆晶与封装基板间之连接点的位置,而预焊料层系填于此开口内。无铅导电凸块系置入阻焊层之开口内,并向下压迫预焊料层,以使预焊料层向上流动覆盖无铅导电凸块至少80%之裸露侧面,同时,覆盖无铅导电凸块之有机保护层系受热消失。 | ||
申请公布号 | TW200539362 | 申请公布日期 | 2005.12.01 |
申请号 | TW093115354 | 申请日期 | 2004.05.28 |
申请人 | 威盛电子股份有限公司 | 发明人 | 何昆耀;宫振越 |
分类号 | H01L21/60 | 主分类号 | H01L21/60 |
代理机构 | 代理人 | 李长铭 | |
主权项 | |||
地址 | 台北县新店市中正路533号8楼 |