用于非易失性存储器测试的装置及方法

摘要

本发明涉及用于非易失性存储器测试的装置及方法，该用于非易失性存储器测试的装置包括用于驱动待处理的非易失性存储器执行编程操作的编程驱动模块、用于驱动所述非易失性存储器执行擦除操作的擦除驱动模块、用于输入时钟信号的时钟输入模块、用于根据所述时钟输入模块输入的时钟信号控制所述编程驱动模块对所述非易失性存储器执行预定时长的编程操作编程控制模块，以及用于根据所述时钟输入模块输入的时钟信号控制所述擦除模块对所述非易失性存储器执行预定时长的擦除操作的擦除控制模块。本发明具有节约时间、提高效率的有益效果。

主权项

一种用于非易失性存储器测试的装置，其特征在于，包括：用于驱动待处理的非易失性存储器(60)执行编程操作的编程驱动模块(40)，用于驱动所述非易失性存储器(60)执行擦除操作的擦除驱动模块(50)，用于输入时钟信号的时钟输入模块(20)，用于根据所述时钟输入模块(20)输入的时钟信号控制所述编程驱动模块(40)对所述非易失性存储器(60)执行小于非易失性存储器进行一次完全编程的时间预定时长的编程操作的编程控制模块(10)，以及用于根据所述时钟输入模块(20)输入的时钟信号控制所述擦除驱动模块(50)对所述非易失性存储器(60)执行小于非易失性存储器进行一次完全擦除的时间的预定时长的擦除操作的擦除控制模块(30)；其中，所述编程操作和所述擦除操作依次交替重复执行预定次数，且编程和擦除操作中每次进入浮栅的电子总数和吸出浮栅的电子总数相等；其中，编程驱动模块(40)和擦除驱动模块(50)均采用外部可调电源进行供电，以获得较高的驱动电压。