发明名称 后护层制程与形成聚合物层于晶片上之制程
摘要 一种后护层制程,其例如包括下列步骤。首先,提供一晶片,而晶片例如包括至少一接垫与一保护层,其中保护层例如具有一开口,暴露出接垫。然后,形成一图案化金属线路与一聚合物层于保护层上,而聚合物层的材质包括聚亚醯胺。其中,形成聚合物层包括下列步骤。形成一且醯胺预聚物层于保护层上。然后,加热亚醯胺预聚物层至低于摄氏320度的温度,以硬化亚醯胺预聚物层。由于硬化温度系低于摄氏320度,故此后护层制程可缓和热预算的压力,并改善介金属化合物的产生。
申请公布号 TW200605224 申请公布日期 2006.02.01
申请号 TW093121260 申请日期 2004.07.16
申请人 米辑科技股份有限公司 发明人 陈盈智
分类号 H01L21/32 主分类号 H01L21/32
代理机构 代理人
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区研发一路21号