发明名称 气隙形成方法
摘要 本发明提供一种于固体结构中形成气隙之方法。该方法系以覆盖层覆盖牺牲材料。然后经由覆盖层将牺牲材料移除而留下气隙。该等气隙特别是用作为例如电性内连线结构之电子装置中金属线之间的绝缘体。本发明亦提供含有气隙之结构。
申请公布号 TWI255003 申请公布日期 2006.05.11
申请号 TW092125167 申请日期 2003.09.12
申请人 希普列公司 发明人 盖瑞格 麦克;葛贝克 黛娜;亚当斯 提摩西;卡瓦特 杰佛瑞
分类号 H01L21/76 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人 洪武雄 台北市中正区博爱路80号6楼;陈昭诚 台北市中正区博爱路80号6楼
主权项 1.一种电子装置、光电装置、或机电装置之制造 方法,该方法包括下列步骤:a)将牺牲材料层配置于 装置基材上;b)将覆盖层材料配置于该牺牲材料层 上;及然后c)将该牺牲材料层移除而形成气隙;其中 ,该牺牲材料层包括交联聚合物。 2.如申请专利范围第1项之方法,其中,该牺牲材料 为可光成像者。 3.如申请专利范围第1项之方法,其中,该装置基材 包括金属线。 4.如申请专利范围第1至3项中任一项之方法,复包 括下列步骤:i)将该覆盖层材料及该牺牲材料层图 案化,以形成特征结构;以及ii)将金属沉积于该等 特征结构中,其中,在步骤b)之后及步骤c)之前进行 步骤i)及步骤ii)。 5.如申请专利范围第1至3项中任一项之方法,其中, 该覆盖层材料具有足以将该牺牲材料层经由该覆 盖层材料移除之孔隙度。 6.如申请专利范围第1至3项中任一项之方法,复包 括下列步骤:视需要将该覆盖层材料固化以获得所 需之机械性质;将该牺牲材料层图案化,以形成所 需之机电特征结构;以及将该牺牲材料层移除。 7.一种电子装置,该电子装置包括:含金属线及于该 等金属线之间配置的牺牲材料层之第一层、以及 于该等金属线与该牺牲材料层上配置之第二层;其 中,该牺牲材料层包括交联聚合物。 8.一种电子装置,该电子装置包括金属线及于该等 金属线之间配置的牺牲材料、以及于该牺牲材料 上配置且与该等金属线相邻之覆盖层材料。 9.一种电子装置,该电子装置包含于基材上形成之 铜线、其上配置有一层或多层铜扩散阻障层之铜 线、于至少部份铜线与该铜扩散阻障层之间所形 成的气隙、以及于该铜扩散阻障层与该气隙之上 所配置的多孔性覆盖层材料。 10.一种电子装置,该电子装置结构包括于基材上配 置之金属线、于至少部份金属线之间所形成的气 隙、以及覆盖层材料,该覆盖层材料系配置于气隙 上且与该等金属线相邻。 图式简单说明: 第1A至1D图系说明本发明气隙形成之一具体实施例 (未按比例绘制)。 第2A至2D图系说明本发明气隙形成之另一具体实施 例(未按比例绘制)。 第3图系说明根据本发明所形成的具有气隙之替代 结构(未按比例绘制)。 第4A至4D图系说明本发明气隙形成之又一具体实施 例(未按比例绘制)。
地址 美国