发明名称 超音波检查圆孔之器具
摘要
申请公布号 TW041633 申请公布日期 1982.02.01
申请号 TW07010990 申请日期 1981.04.08
申请人 西屋电气公司 发明人 科隆.凯.安吉;马歇尔.杰.洛斯
分类号 G01B17/00 主分类号 G01B17/00
代理机构 代理人 林敏生 台北巿南京东路二段一二五号七楼伟成第一大楼
主权项 1﹒一个支持仪器于一口径中,并以一被要求的力抵着限制口径壁来强迫仪器的检查仪具,前述观察仪具包含一个沿口径的纵轴(18)可插入口径内之壳套(20),第一多组平行连杆臂(22、26)对前述壳套(20)被配置在多处周围位置,枢轴地连接前述第一多组连杆臂(22)至前述壳套(20)于前述第一多处周围位置处的第一器具,使得前述第一连杆臂仅在相对于前述壳套(20)的轴平面内是枢要的,多组支臂结构(28)每个包括接触前述口径壁的中央部份(31)和一啮合部份(32),枢轴地连接前述第一多组连杆臂(22.26)至前述支臂结构(28)的第二器具,配置于前述壳套(20)中,以依轴转前述连杆臂(22─26)的器具(21─24),由前述支臂结构(28)支持以便于啮合前述口径壁的多组仪器,以及一个连接到每一支臂结构(28)以携持前述仪器(38)之一的一个仪器载子(36),特殊于前述仪器(38)相对于前述仪器载子(36)都被可移地支持着,和被提供以相对于前述支臂结构(28)而言,以一预定方向着前述口径臂辐射地向外偏斜前述仪器(38)的器具(40),为了以前述预定力来啮合前述仪器与前述口径壁而与应用至前述交臂(28)的啮合力无关。2﹒依据请求专利部份中第1项的检查仪具,特殊于前述仪器载子(36)相对于前述交臂结构(28)是选择地辐射地可取代的。3﹒依据请求专利部份第1或2项中之检查仪具。特殊于前述仪器载子(36)包含一有侧壁(36b、c)的底部(36e)以便于定义一有一开口的结构,辐外地外端,和前述仪器(38)被接受于前述结构(36)中,前述偏斜器具(40)被安置于前述仪器(38)和前述底部(36e)之间。4﹒依据请求专利部份第3项之检查仪具,特殊于限制每一前述仪器辐射向外移动于一预定点之后的器具。5﹒依据请求专利部份中第4项的一个检查仪具,特殊于为了限制,前述仪器在其内有一口(38b)以与在前述载子(36)中的开口(36d)配合,以及一支被插入前述开口且穿透前述口(38b)的针,前述口(38b)大于前述开口,容许前述仪器及前述仪器(38)载子(36)之相当的辐射移动。6﹒依据请求专利部份第1至5项之检查仪具,特殊于前述啮合部份(32)至少包含一个可转动地被支持于前述支臂结构(28)上的轮子。前述轮子辐射地突出并有一平行前述口径之纵向轴之转动轴。
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